[发明专利]C形臂X光锥测定方法

权利要求书

1.一种C形臂X光锥测定方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤一、通过C形臂X光锥测定装置获取X射线图像；

步骤二、校正获取的X射线图像；

步骤三、测算出光源点与成像平面的垂直距离；

步骤四、测算出光源点在水平面上的偏移量；

所述的C形臂X光锥测定装置包括上层测定板和下层测定板，上层测定板和下层测定板平行间隔相连，在下层测定板中心设有一个第一钢球，在下层测定板边缘设有按正交方式设置的四个第二钢球，在上层测定板上设有按正交方式排列的多个第三钢球。

2.根据权利要求1所述的C形臂X光锥测定方法，其特征在于：步骤二中所述的校正获取的X射线图像的具体作法是，取图像中第三钢球投影的中心九点，获取九点中每点与其相邻点的距离，并对所得数据取平均值作为点与点间的标准行列距来校正第三钢球投影的各个点的位置，再通过校正后的第三钢球投影和校正前的第三钢球投影间的相对位置关系得出一个映射函数，再通过该映射函数校正下层测定板上各钢球在X射线图像上的投影，以得到准确图像。

3.根据权利要求1所述的C形臂X光锥测定方法，其特征在于：步骤三中所述的测算出光源点与成像平面的垂直距离的具体作法是，测定任意一个第二钢球与第一钢球的距离B1及他们在X射线成像平面上投影的距离B2，测定任意一个第三钢球与中心第三钢球的距离C1以及它们在X射线成像平面上投影的距离C2，设上层测定板和下层测定板之间的距离为A2，并设X线光源点与成像平面的垂直距离为A1，光源点与测定装置下层测定板的垂直距离为A3，通过B1、B2及C1、C2之间的相似关系可得出两个等式：由两个等式求出X射线光源点与成像平面之间的垂直距离A1。

4.根据权利要求1所述的C形臂X光锥测定方法，其特征在于：步骤四中所述的确定光源点在水平面的偏移量的具体作法是，以成像平面中心点为原点建立坐标系，设光源点的坐标值为(x₁，y₁)，光源点与成像平面法线的距离为D1，已知第一钢球的投影与坐标原点的距离D2，第一钢球的投影坐标为(x₂，y₂)，光源点和成像平面间的垂直距离A1，光源点与测定装置下层测定板的垂直距离为A3，通过D1、D2间的相似关系可得等式D1D2=A3A1-A3,D1D2=-X1X2,D1D2=-Y1Y2,]]>由此求出光源点的坐标值(x₁，y₁)，从而获知X射线光源点在水平面上的偏移量。