[发明专利]梨黑星病抗性的离体鉴定方法无效

专利信息
申请号: 201210112929.4 申请日: 2012-04-17
公开(公告)号: CN103371062A 公开(公告)日: 2013-10-30
发明(设计)人: 张海娥;乐文全;张新忠;李永红;徐金涛;魏建梅;冉辛拓;刘金利 申请(专利权)人: 河北省农林科学院昌黎果树研究所
主分类号: A01G7/00 分类号: A01G7/00
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 王朋飞;王加岭
地址: 066600 河*** 国省代码: 河北;13
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摘要:
搜索关键词: 梨黑星病 抗性 鉴定 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及植物病理学领域,具体地说,涉及梨黑星病抗性的离体鉴定方法。

背景技术

梨黑星病(Venturia nashicola,Venturia pirina)又称疮痂病,是梨种植地区普遍发生的一种病害。梨黑星菌,属于子囊菌纲(Ascomycetes),座囊菌目(Dothideals),多孢菌科(Pleosporaceae),黑星菌属(Venturia de Not)。梨黑星菌分为两大类V.nashicola和V.pirina,其中V.pirina以洋梨为寄主,V.nashicola以日本梨和中国梨为寄主。梨黑星病主要侵染梨树的绿色幼嫩组织,包括花序、叶片、叶柄、新梢、芽鳞及果实等,其中以叶片、果实为主。梨黑星病侵染的最典型症状是在病部产生明显的黑色霉层,呈鸡爪形状,又有黑霉病之称。叶片受害多发生在叶背,病部先呈现黄色,随后长出黑色霉斑,叶片正面呈现多角形或圆形褪绿黄斑,严重时,叶片正反面都长满黑色霉层,致使叶片干枯脱落。叶柄受害时,会产生圆形或长条状霉斑造成落叶。嫩梢发病时,除形成条状霉斑外,后期皮层龟裂,呈粗皮状的疮痂状。果实受害时,初期呈现淡黄色斑点,随后逐渐扩大长出黑霉层,严重时病部凹陷木栓化,停止生长呈畸形,易脱落。

目前对梨黑星病的防治主要是化学防治,化学防治成本高、效率低、能够引起病菌生理小种的变异且容易造成环境污染,解决这种困境的方法是培育抗病品种,而培育抗病品种的关键是早期的抗病性评价。目前对抗病性的评价方法多采用分生孢子田间接种,田间接种首先是过程繁琐,包括喷施杀菌剂、套袋等,其次是或多或少会受到环境条件的影响,另外对病原需求量大。

发明内容

本发明旨在克服现有技术的不足,提供一种在梨离体叶片上接种梨黑星病菌的方法,从而评价品种的抗病性。

为了实现本发明目的,本发明的一种梨黑星病抗性的离体鉴定方法,从梨树上取旺盛生长的新梢顶部起第三片叶,置于铺有湿毛巾的托盘上,叶片背面向上,向叶片背面喷布浓度为5×104个孢子/ml的梨黑星菌(Venturia de Not)的分生孢子液至淋湿,接种后套上塑料袋密封保湿,置于25℃人工气候箱中,15天后根据发病情况鉴定出抗病品种。

本发明提供的梨黑星病抗性的离体鉴定方法,是将梨整个叶片上都喷布分生孢子液至淋湿,旨在获得在梨叶片离体状态下接种梨黑星病菌后的病情指数,如果这个病情指数比较接近于田间接种的结果,即为期望获得的比较准确的离体接种方法。

本发明方法是利用梨的离体叶片在室内进行接种鉴定,通过严格控制接种条件并置于人工气候箱中培养,使环境条件带来的影响降至最低,并且省去了喷施杀菌剂和套袋等一系列步骤,操作过程简单,能够快速、高效、准确地完成对较大群体的梨黑星病抗病性的离体评价,而对其抗病性遗传规律进行分析,极具实用意义。

附图说明

图1为鸭梨×03-04-034杂交后代群体病斑面积/叶片面积次数分布图。

图2为鸭梨×03-08-080杂交后代群体病斑面积/叶片面积次数分布图。

具体实施方式

以下实施例用于说明本发明,但不用来限制本发明的范围。若未特别指明,实施例中所用的技术手段为本领域技术人员所熟知的常规手段,所用原料均为市售商品。

实施例1梨黑星病抗性的离体鉴定方法

1.1离体梨叶片上接种梨黑星病菌的方法,包括如下步骤:

1.1.1材料采用抗病优系03-04-034、03-08-080,高感品种鸭梨、京白梨及中抗品种雪花梨,旺盛生长中新梢的第3片叶,其中03-04-034是从京白梨×鸭梨杂交群体中筛选出来的高抗黑星病的优系,03-08-080是从鸭梨×京白梨杂交群体中筛选出来的高抗黑星病的优系,鸭梨、京白梨、雪花梨是中国传统的名优品种。

1.1.2采用完全试验设计,设置2个因素:温度和菌种形态;其中温度设置4个水平:20℃、25℃、30℃、35℃;菌种形态设置6个水平:菌丝、菌饼、分生孢子液浓度为5×103个孢子/ml、分生孢子液浓度为5×104个孢子/ml、分生孢子液浓度为5×105个孢子/ml,分生孢子液浓度为5×106个孢子/ml。

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