[发明专利]一种多孔AlN/GaN薄膜的制备方法无效

专利信息
申请号: 201210111031.5 申请日: 2012-04-16
公开(公告)号: CN102644050A 公开(公告)日: 2012-08-22
发明(设计)人: 颜国君 申请(专利权)人: 西安理工大学
主分类号: C23C14/14 分类号: C23C14/14;C23C14/58;C23C8/24;C23C8/80
代理公司: 西安弘理专利事务所 61214 代理人: 李娜
地址: 710048*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 多孔 aln gan 薄膜 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种多孔AlN/GaN薄膜的制备方法,其特征在于,具体按以下步骤实施:

步骤1,称取原料,

按物质的量之比为3∶7~7∶3称取A组分和B组分,

A组分为Al或Ga,

B组分为Mg、Li或Ca中任一种,或任意两种或三种以任意比例的组合;

步骤2,制备合金薄膜,

将A组分与B组份同时向基片上沉积,制得合金薄膜;

步骤3,合金薄膜氮化,

把合金薄膜连同基片材料在真空气氛炉中,在氮气或氨气气氛中,以150~300℃/h的加热速度从室温加热到700℃~1000℃后,在700℃~1000℃的温度下保温氮化3h~10h,以获得合金氮化物薄膜;

步骤4,酸洗,

将氮化得到的合金氮化物薄膜连同基片冷却到室温后,浸泡到酸中1h~3h,使B组份的氮化物充分溶解到酸中,得到多孔薄膜;

步骤5,清洗、干燥,

把经酸洗得到的多孔薄膜浸泡以去除薄膜孔中的酸溶液,并进行干燥,即可。

2.根据权利要求1所述的多孔AlN/GaN薄膜的制备方法,其特征在于,在步骤2中,采用磁控溅射镀膜技术或真空蒸镀镀膜技术将A组分与B组份同时向基片上沉积,获得合金薄膜。

3.根据权利要求1所述的多孔AlN/GaN薄膜的制备方法,其特征在于,步骤4中酸的浓度为0.1M~1M的稀盐酸或浓度为0.1M~1M稀硫酸。

4.根据权利要求1所述的多孔AlN/GaN薄膜的制备方法,其特征在于,步骤2中的基片为蓝宝石、碳化硅或Si单晶。

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