[发明专利]一种XFP接口光模块自环方法及装置有效
申请号: | 201210110847.6 | 申请日: | 2012-04-16 |
公开(公告)号: | CN102647229B | 公开(公告)日: | 2017-04-12 |
发明(设计)人: | 董超 | 申请(专利权)人: | 中兴通讯股份有限公司 |
主分类号: | H04B10/075 | 分类号: | H04B10/075 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司11240 | 代理人: | 江舟,李灵洁 |
地址: | 518057 广东省深圳市南山*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 xfp 接口 模块 方法 装置 | ||
技术领域
本发明涉及通信设备测试领域,特别涉及一种XFP接口光模块自环方法及装置。
背景技术
通信设备由各种板卡组成,在通信设备生产过程中,为了达到控制产品质量的目的,通信设备中的各种板卡在生产完成后都需要经过各种测试环节,其中一个测试环节就是长时间的高温老化测试。传统的高温老化测试方法是将待测设备放置在高温环境下,通过测试仪表监控通信设备的运行情况,所监控的参数包括误码率、警告等。
目前,在交换机、路由器等通信设备上,已经大量使用10G通信接口,其中,大部分接口采用的都是XFP(10 Gigabit Small Form Factor Pluggable,光学收发器)封装的10G光模块。通信设备中的光模块安装在光接口板上,XFP光模块在光接口板上完成信号的接入、环回或者串接等功能,因此,XFP光模块必须配置在光接口板中才能使通信设备的老化测试更加准确,XFP光模块是通信设备生产测试环节不可缺少的重要部件。
XFP光模块在整机设备进入工程现场前,共需要进行两次老化测试,第一次是XFP光模块出厂前,按照相关的行业标准进行的老化测试;第二次是XFP光模块配置在光接口板中,按照相关的行业标准进行的老化测试。经过上述两次老化测试,会造成XFP光模块的过度老化、寿命缩短、故障率增高等一系列问题。而又由于XFP光模块本身价格较高且是通信设备中连接多模块的重要部件,一旦在现场运行过程中XFP光模块出现故障,将造成巨大的损失。
发明内容
本发明实施例提供一种XFP接口光模块自环装置,用以解决现有技术中存在的通信设备老化测试成本高,使用经过多次老化测试的XFP光模块使得通信设备故障率高等问题。
本发明实施例提供的具体技术方案如下:
一种XFP接口光模块自环装置,包括第一电阻201、第一电容202和第二电容203,其中,
第一电阻201通过第一端口1连接数据发送正极端29,通过第二端口2连接数据发送负极端28,通过第三端口3连接第一电容202,通过第四端口4连接第二电容203,第一电阻201用于向监控设备发送来自第一电容202和第二电容203的信号;
第一电容202通过第五端口5连接数据接收正极端18,第一电容202用于接收来自于待测设备的第一输入信号;
第二电容203通过第六端口6连接数据接收负极端17,第二电容203用于接收来自于待测设备的第二输入信号。
一种XFP接口光模块自环方法,包括:
将待测设备发送的第一输入信号由XFP接口光模块自环装置的数据接收正极端18输入,经过第一电容202耦合后传输至第一电阻201,由第一电阻201输出至监控设备;
将上述待测设备发送的第二输入信号由XFP接口光模块自环装置的数据接收负极端17输入,经过第二电容203耦合后传输至第一电阻201,由第一电阻201输出至监控设备。
在本发明实施例中,应用一种XFP接口光模块自环装置替代XFP光模块,能够承担XFP光模块在通信设备测试中的功能。由于该XFP接口光模块自环装置内部没有价格昂贵的光接收机和光发送激光器等部件,且可以根据需要自行设置该装置内部的一些部件,因此,利用上述装置替代XFP光模块对光接口板进行老化测试,方便可靠,可有效减少成本,降低通信设备的故障率。
附图说明
图1为现有技术中XFP光模块的插座信号定义示意图;
图2为本发明实施例中XFP接口光模块自环装置示意框图;
图3为本发明实施例中XFP接口光模块自环装置电路示意图。
具体实施方式
为减少通信设备老化测试的成本,延长XFP光模块的使用寿命,降低使用多次老化测试后的XFP光模块的通信设备故障率,在本发明实施例中,应用一种XFP接口光模块自环装置替代XFP光模块,能够承担XFP光模块在通信设备测试中的功能。由于该XFP接口光模块自环装置内部没有价格昂贵的光接收机和光发送激光器等部件,而且可以根据需要自行设置该装置内部的一些部件,因此,利用上述装置替代XFP光模块对光接口板进行老化测试,方便可靠,可有效减少成本,降低通信设备的故障率。
下面结合附图对本发明优选的实施装置进行详细说明。
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