[发明专利]腐蚀环境传感器及腐蚀环境测量方法无效

专利信息
申请号: 201210110155.1 申请日: 2012-04-13
公开(公告)号: CN102735605A 公开(公告)日: 2012-10-17
发明(设计)人: 仲田琉璃;小长井信寿;﨏孝太;伊藤裕也 申请(专利权)人: 铃木株式会社
主分类号: G01N17/04 分类号: G01N17/04
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇;张会华
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 腐蚀 环境 传感器 测量方法
【权利要求书】:

1.一种腐蚀环境传感器,其用于测量至少一方的构件为导体的二个构件间的间隙内部的腐蚀环境,其特征在于,具有:

基座,该基座具有能够与作为导体的所述一方的构件相对的表面;

电极,该电极设于所述基座的所述表面,由与作为导体的所述一方的构件电离倾向不同的材料形成,通过与作为导体的所述一方的构件分开相对,与作为导体的所述一方的构件形成电耦合。

2.根据权利要求1所述的腐蚀环境传感器,其特征在于,所述基座上设有间隔件,该间隔件用于将所述电极和作为导体的所述一方的构件分开。

3.根据权利要求1或2所述的腐蚀环境传感器,其特征在于,所述基座上设有卡止部,该卡止部与所述二个构件中的另一方的构件卡止。

4.一种腐蚀环境测量方法,其是对至少一方的构件为导体的二个构件间的间隙内部的腐蚀环境进行测量的测量方法,其特征在于,

以与所述一方的构件分开相对的方式配设由与作为导体的所述一方的构件具有不同的电离倾向的材料构成的电极,

测量所述电极和作为导体的所述一方的构件之间的伽伐尼电流。

5.一种腐蚀环境测量方法,其是对至少一方的构件为导体的二个构件间的间隙内部的腐蚀环境进行测量的测量方法,其特征在于,

在与作为导体的所述一方的构件相对的另一方的构件上形成缺口或开口,

在形成于所述另一方的构件的缺口或开口中配设腐蚀环境传感器,其中,所述腐蚀环境传感器的电极设于基座的表面,所述电极由与所述一方的构件电离倾向不同的材料构成,并且使所述电极与作为导体的所述一方的构件分开相对,

测量所述电极与作为导体的所述一方的构件之间的伽伐尼电流。

6.根据权利要求5所述的腐蚀环境测量方法,其特征在于,所述电极和作为导体的所述一方的构件间的距离,与作为导体的所述一方的构件和所述另一方的构件间的距离相同。

7.根据权利要求6所述的腐蚀环境测量方法,其特征在于,在所述基座上设置突起状的间隔件,由所述间隔件将所述电极和作为导体的所述一方的构件维持在分开的状态下。

8.根据权利要求5或6所述的腐蚀环境测量方法,其特征在于,由所述基座将形成于所述另一方的构件的所述缺口或所述开口堵塞。

9.根据权利要求5至8中任意一项所述的腐蚀环境测量方法,其特征在于,所述基座的厚度与所述电极的厚度的总和与所述另一方的构件的厚度相同,而且,所述基座上设有凸缘状的卡止部,所述卡止部卡止于所述另一方的构件,从而所述电极和作为导体的所述一方的构件间的距离被维持为与作为导体的所述一方的构件和所述另一方间的距离相同的距离。

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