[发明专利]生化检测系统及其光源模组

说明书

技术领域

本发明涉及一种生化检测系统，尤其涉及一种光学生化检测系统。

背景技术

目前光学生化检测系统所使用的光源大多为氙气灯，其主要原因为氙气灯能够于可见光的范围内提供强度差距较小的光源，有利于后续分析的执行。然而，氙气灯的价格较高，却不利于光学生化检测系统的普及化。

虽然，目前光学生化检测系统亦有使用价格较低的卤素光源，但执行分析时可能需要针对可见光部份波长的光源作分析，需要执行多次才能完成可见光全光谱的分析，而无法一次执行可见光全光谱的分析。这对某些可见光全光谱的分析而言是不允许的。卤素光源于可见光的范围内的强弱之间的差距可能会超过20倍，在一次感测可见光全光谱后，后续分析的执行会难度很高或无法分析。

有鉴于上述的问题，光学生化检测系统需要一种平价的光源模组解决方案。

发明内容

因此，本发明的一个目的是在提供一种改良的光学生化检测系统，藉以取代以氙气光源的光学生化检测系统。

依据上述目的，提出一种生化检测系统的光源模组，其包含一卤素光源、一第一分光镜、一波长介于380纳米与420纳米之间的蓝紫光源、一波长介于320纳米与360纳米之间的紫外光源以及一第二分光镜。第一分光镜用以反射卤素光源。蓝紫光源穿透第一分光镜，且与被第一分光镜反射的卤素光源大致沿第一方向传递。第二分光镜用以反射蓝紫光源与卤素光源沿第二方向传递。紫外光源于穿透第二分光镜后与紫外光源一起用以检测一待检测样本。

依据本发明一实施例，光源模组更包含一滤光镜用以衰减卤素光源中波长介于600纳米与800纳米之间的光源，该滤光镜位于该卤素光源与该第一分光镜之间。

依据本发明另一实施例，蓝紫光源光源为一发光二极管。

依据本发明另一实施例，紫外光源为一发光二极管。

依据本发明另一实施例，紫外光源包含另一卤素光源以及一波长介于320纳米与360纳米之间的干涉滤光镜，干涉滤光镜位于另一卤素光源与第二分光镜之间。

依据本发明另一实施例，第一分光镜为一全波段分光镜。

依据本发明另一实施例，第二分光镜为一针对紫外光源85％穿透及15％反射的分光镜。

依据上述目的，提出一种生化检测系统的光源模组，其包含一卤素光源、一滤光镜、一波长介于320纳米与360纳米之间的紫外光源以及一第二分光镜。卤素光源沿第一方向传递。滤光镜用以衰减卤素光源中波长低于300米且高于600纳米的光源。第二分光镜用以反射卤素光源沿第二方向传递。紫外光源于穿透分光镜后与卤素光源一起用以检测一待检测样本。

依据本发明一实施例，紫外光源为一发光二极管。

依据本发明另一实施例，紫外光源包含另一卤素光源以及一波长介于320纳米与360纳米之间的干涉滤光镜，干涉滤光镜位于另一卤素光源与第二分光镜之间。

依据本发明另一实施例，第二分光镜为一针对紫外光源85％穿透及15％反射的分光镜。

依据上述目的，提出一种生化检测系统，其包含一种如上述的光源模组以及一光谱分析仪。光谱分析仪用以分析穿越待检测样本后的光线。

依据本发明一实施例，光谱分析仪包含一入射狭缝、一聚焦色散元件以及一感光二极管阵列。入射狭缝用以接收穿越待检测样本后的光线。聚焦色散元件用以空间色散展开穿过入射狭缝的光线。感光二极管阵列用以感测经聚焦色散元件展开后的光线。

依据本发明另一实施例，光谱分析仪包含一入射狭缝、一平行光镜、一色散元件、一聚光镜以及一感光二极管阵列。入射狭缝用以接收穿越待检测样本后的光线。平行光镜用以反射穿越入射狭缝的光线。色散元件用以展开经平行光镜反射后的光线。感光二极管阵列用以感测经色散元件展开后的光线。聚光镜用以将经该色散元件展开后的光线聚焦于感光二极管阵列。

由上述可知，应用本发明的生化检测系统，利用其光学模组改善卤素光源的特性，使卤素光源更能符合在可见光的范围作全光谱检测的需求，藉以替代高价的氙气光源，而使生化检测系统的元件成本能进一步降低。

附图说明

为了使本发明的上述和其他目的、特征、优点与实施例能更明显易懂，附图的说明如下：

图1A是绘示依照本发明一实施方式的一种生化检测系统；

图1B是绘示依照本发明另一实施方式的一种生化检测系统；

图2、图3是分别绘示依照本发明的生化检测系统的光源模组经光学模组处理前、后所测得的数据图；

图4是绘示依照本发明一实施例的一种光学模组的示意图；