[发明专利]半自动3D立体像差光标有效
| 申请号： | 201210098881.6 | 申请日： | 2012-04-06 |
| 公开（公告）号： | CN102821299A | 公开（公告）日： | 2012-12-12 |
| 发明（设计）人： | D.G.贝克;L.戈皮尚卡 | 申请（专利权）人： | 特克特朗尼克公司 |
| 主分类号： | H04N17/00 | 分类号： | H04N17/00;H04N17/02;H04N13/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 马永利;卢江 |
| 地址： | 美国俄*** | 国省代码： | 美国;US |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 半自动 立体 光标 | ||
1. 一种测试和测量仪器，包括：
用于选择处于测试中的三维图像的区域的像差光标；以及
用于向用户报告所选区域的平均像差值的装置。
2. 如权利要求1所述的测试和测量仪器，其中，用于报告平均像差值的所述装置包括数值读出。
3. 如权利要求1所述的测试和测量仪器，其中，用于报告平均像差值的所述装置包括用于改变所述像差光标的外观的装置。
4. 如权利要求1所述的测试和测量仪器，还包括用于改变所述像差光标的外观以提供所述平均像差值的估计的质量的视觉指示的装置。
5. 如权利要求1所述的测试和测量仪器，其中，所述像差光标被覆盖在作为左图像与右图像的组合的单个图像上。
6. 如权利要求1所述的测试和测量仪器，其中，所述像差光标包括两个像差光标，其中一个被覆盖在左图像上，以及另一个被覆盖在右图像上。
7. 如权利要求1所述的测试和测量仪器，其中，所述像差光标的尺寸和/或形状由用户规定。
8. 如权利要求1所述的测试和测量仪器，其中，所述像差光标的尺寸和/或形状由所述测试和测量仪器为用户确定。
9. 如权利要求1所述的测试和测量仪器，其中，通过把由所述像差光标限定的左图像和右图像相对于彼此偏移直到这两个图像之间的差被最小化，来确定所述平均像差值。
10. 如权利要求9所述的测试和测量仪器，其中，对所述左图像和右图像进行边缘滤波，以便提供所述平均像差值的更精确的估计。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于特克特朗尼克公司，未经特克特朗尼克公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210098881.6/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
