[发明专利]一种新型温度稳定型微波介质陶瓷无效
申请号: | 201210097553.4 | 申请日: | 2012-04-05 |
公开(公告)号: | CN102617143A | 公开(公告)日: | 2012-08-01 |
发明(设计)人: | 李玲霞;廖擎玮;任翔;孟庆磊;吴霞宛 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
主分类号: | C04B35/495 | 分类号: | C04B35/495;C04B35/622;H01B3/12 |
代理公司: | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人: | 曹玉平 |
地址: | 300072*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 新型 温度 稳定 微波 介质 陶瓷 | ||
1.一种新型温度稳定型微波介质陶瓷,其原料组成及其摩尔百分比含量为Mg0.5Zn0.5TiNb2O8,采用MgO、ZnO、Nb2O5和TiO2为原料。
制备步骤如下:
(1)将化学原料MgO、ZnO、Nb2O5和TiO2分别按Mg0.5Zn0.5TiNb2O8化学式称量配料;
(2)将步骤(1)配置好的化学原料混合,放入球磨罐中,加入氧化锆球和去离子水,球磨8~12小时,将球磨后的原料于红外干燥箱中烘干,过筛;
(3)步骤(2)混合均匀的粉料在860℃煅烧2.5小时合成熔块;
(4)在步骤(3)熔块中外加重量百分比为0.48~0.78%聚乙烯醇,放入球磨罐中,加入氧化锆球和去离子水,球磨2~4小时,烘干后过筛,再用粉末压片机压成坯体;
(5)将步骤(4)的坯体于1060~1180℃烧结,保温2~4小时,制得温度稳定型微波介质陶瓷;
(6)测试步骤(5)制得的温度稳定型微波介质陶瓷的微波介电性能。
2.根据权利要求1的新型温度稳定型微波介质陶瓷,其特征在于,所述步骤(1)的化学原料纯度大于99.9%。
3.根据权利要求1的新型温度稳定型微波介质陶瓷,其特征在于,所述步骤(4)坯体为Φ10mm×5mm的圆柱形,所述粉末压片机的压力为8~12MPa。
4.根据权利要求1的新型温度稳定型微波介质陶瓷,其特征在于,所述步骤(6)的测试仪为网络分析仪。
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