[发明专利]一种SiO2减反射薄膜及其制备方法有效
申请号: | 201210097416.0 | 申请日: | 2012-04-01 |
公开(公告)号: | CN102617045A | 公开(公告)日: | 2012-08-01 |
发明(设计)人: | 宋伟杰;兰品军;李佳;鲁越晖;杨晔;谭瑞琴 | 申请(专利权)人: | 中国科学院宁波材料技术与工程研究所 |
主分类号: | C03C17/23 | 分类号: | C03C17/23 |
代理公司: | 杭州天勤知识产权代理有限公司 33224 | 代理人: | 刘诚午 |
地址: | 315201 浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 sio sub 反射 薄膜 及其 制备 方法 | ||
1.一种SiO2减反射薄膜,包括光伏玻璃衬底以及依次涂覆在光伏玻璃衬底上的10nm-30nm厚的第一SiO2致密层、50nm-300nm厚的SiO2纳米空心颗粒层和填充在SiO2纳米空心颗粒层中SiO2纳米空心颗粒之间孔隙中的第二SiO2致密物;
所述的第二SiO2致密物的填充总量等同于5nm-30nm厚的第一SiO2致密层中SiO2致密物的量。
2.根据权利要求1所述的SiO2减反射薄膜,其特征在于,所述的SiO2纳米空心颗粒层的厚度为90nm-120nm;
所述的第二SiO2致密物的填充总量等同于10nm-20nm厚的第一SiO2致密层中SiO2致密物的量。
3.根据权利要求1或2所述的SiO2减反射薄膜,其特征在于,所述的SiO2纳米空心颗粒层的厚度为100nm;
所述的第二SiO2致密物的填充总量等同于15nm厚的第一SiO2致密层中SiO2致密物的量。
4.根据权利要求1所述的SiO2减反射薄膜,其特征在于,所述的SiO2纳米空心颗粒层中SiO2纳米空心颗粒的粒径为30nm~120nm,壁厚为3nm~20nm,粒径的相对标准偏差为5%~30%。
5.根据权利要求1或4所述的SiO2减反射薄膜,其特征在于,所述的SiO2纳米空心颗粒层中SiO2纳米空心颗粒的粒径为30nm~45nm,壁厚为4~6nm,粒径的相对标准偏差为5%~10%。
6.根据权利要求1至5任一项所述的SiO2减反射薄膜的制备方法,包括步骤:
a.在经过清洗的光伏玻璃上涂覆SiO2溶胶,于200℃~450℃热处理0.2h~1h,制备第一SiO2致密层;
b.将SiO2纳米空心颗粒分散液涂覆于步骤a中的第一SiO2致密层上,在空气中干燥5分钟~20分钟;
c.将步骤b重复1~8次后涂覆SiO2溶胶,于200℃~450℃热处理0.2h~1h;
d.重复步骤c,制备SiO2纳米空心颗粒层并在SiO2纳米空心颗粒层中SiO2纳米空心颗粒之间孔隙中填充第二SiO2致密物,经300℃~450℃处理0.5小时~2小时,得到SiO2减反射薄膜。
7.根据权利要求6所述的SiO2减反射薄膜的制备方法,其特征在于,所述的SiO2溶胶为酸催化SiO2溶胶。
8.根据权利要求6所述的SiO2减反射薄膜的制备方法,其特征在于,所述的涂覆采用旋涂法、提拉法或者喷涂法中的一种方式来完成。
9.根据权利要求6所述的SiO2减反射薄膜的制备方法,其特征在于,所述的SiO2纳米空心颗粒分散液的制备方法,包括如下步骤:
(1)按照硅源、去离子水、催化剂、溶剂及模板剂的摩尔比为1∶30~90∶15~40∶300~700∶0.01~0.02配置原料;
(2)将步骤(1)中的去离子水、模板剂与催化剂混合,搅拌均匀,接着加入溶剂搅拌均匀,硅源分2~10次等量加入,每次间隔0.5h~3h,硅源全部加入后溶液持续搅拌5h~20h,得到SiO2纳米空心颗粒分散液。
10.根据权利要求9所述的SiO2减反射薄膜的制备方法,其特征在于,所述的硅源为正硅酸甲酯、正硅酸乙酯中的一种或两种;
所述的模板剂为十六烷基三甲基溴化铵、聚丙烯酸、聚丙烯酸钠中的一种或两种以上;
所述的溶剂为乙醇、异丙醇、乙二醇中的一种或两种以上;
所述的催化剂为氨水中的氨、尿素或氢氧化钠。
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