[发明专利]太赫兹波探测装置

权利要求书

1.一种太赫兹波探测装置，其特征在于，包括：

第一离轴椭圆面镜，用于将从第一离轴椭圆镜面所在椭圆的其中一个焦点入射的太赫兹波聚焦到椭圆镜面所在椭圆的另一个焦点；

第二离轴椭圆面镜，所在椭圆的其中一个焦点与第一离轴椭圆镜面所在椭圆的另一个焦点重合，用于将所述汇聚的太赫兹波反射后汇聚到第二离轴椭圆面镜所在椭圆的另一个焦点；

样品台，置于第一离轴椭圆面镜和第二离轴椭圆面镜所在椭圆的公共焦点上，用于放置待检测样品；

太赫兹波辐射源，置于所述第一离轴椭圆面镜所在椭圆入射太赫兹波的焦点上，用于发出太赫兹波；

探测单元，置于所述第二离轴椭圆面镜所在椭圆的另一个焦点上，根据第二离轴椭圆面镜聚焦的携带有待检测样品信息的太赫兹波得出所需待检测样品信息。

2.根据权利要求1所述的太赫兹波探测装置，其特征在于，所述太赫兹波辐射源包括太赫兹发射器和飞秒激光。

3.根据权利要求1所述的太赫兹波探测装置，其特征在于，所述第二离轴椭圆面镜上的中心在所述第一离轴椭圆面镜上的中心与公共焦点的延长线上。

4.根据权利要求3所述的太赫兹波探测装置，其特征在于，所述第一离轴椭圆面镜上的中心与其两个焦点的连线夹角为90度，所述第二离轴椭圆面镜上的中心与其两个焦点的连线夹角为90度。

5.根据权利要求1所述的太赫兹波探测装置，其特征在于，所述第二离轴椭圆面镜的中心在所述第一离轴椭圆面镜的中心与所述公共焦点的连线在样品台上的反射线上。

6.根据权利要求5所述的太赫兹波探测装置，其特征在于，所述第一离轴椭圆面镜上的中心与其两个焦点的连线夹角小于90度，所述第二离轴椭圆面镜上的中心与其两个焦点的连线夹角小于90度。

7.根据权利要求1所述的太赫兹波探测装置，其特征在于，所述第一离轴椭圆面镜和第二离轴椭圆面镜的对应椭圆的长轴、短轴相等。

8.根据权利要求1所述的太赫兹波探测装置，其特征在于，所述探测单元包括：

对所述待检测样品出射、携带有所述待检测样品信息的太赫兹波进行斩波调制处理的斩波器；

置于所述第二椭圆面镜所在椭圆的所述另一个焦点上，感应经所述斩波器斩波调制处理的太赫兹波的各探测点的能量变化，并根据所述探测点的能量变化产生相应的多个电信号的探测器；

将所述探测器产生的所述各探测点的电信号进行放大处理以及模/数转换处理，得到多个结果值的信号处理单元；

根据所述多个结果值，利用扫描成像软件对所述待检测样品进行成像并显示的显示端。