[发明专利]耐压测试器的连接检测装置及其连接测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及耐压测试技术领域，具体涉及一种耐压测试器的连接检测装置及其连接检测方法。

背景技术

为了确保产品的实用安全，尤其是电器类产品，其在制造下线前都会进行安全测试，如漏电流测试，耐压测试。近些年，因相关法规规定的测试量逐年增加，测试程序要求更加严谨，以期待能确实检验出不良品或是临界不良品的待测产品。目前，多数电器生产厂家采用传统测试方式或传统测试电路结构，但是，这种传统的测试方式或测试电路结构很难在测试前对测试设备与待测产品之间是否接触可靠进行检测, 或是在待测产品测试前虽能检测接触是否可靠，但是并无法监测其整个测试过程接触是否可靠，这些都会造成产品测试质量的可靠性大受质疑，从而无法确保产品质量。

如图1所示，为漏电流下限检验法的电路原理图。利用此方式作为待测产品与高压测试端接触是否可靠的检验，存在一种问题，因为此种方式是根据产品本身的漏电流值做为判断依据，但是不同待测产品所具有的漏电流值不同，并非每个产品都是一样，因此在判断上容易造成误判现象，这种检验方式可靠性不高。

如图2所示，为开路电容检验法的电路原理图。利用此方法作为待测产品与高压输出端接触是否可靠的检验，同样存在一种问题，此方式是将待测产品本身等效为一个电容来进行测量的，当测试导线与待测产品接触与断开的两种情况下，在整个待测产品的两端所形成的电容量是有变化的，从而可以根据前后电容变化量来判断测试电路与待测产品之间接触是否可靠的依据。但这方式在实际生产检验环境下存在许多变数，其待测产品本身电容量与当测试导线开路时电容量并非每次相同，且当有加装测试治具或是导线有变化时，其电容量也会变化，因此也容易造成误判现象。因此这种检验方式可靠性也不高。另外因每次测试前须先做判断，因此测试时间被延长，造成测试效率降低，不符合经济效益。

如图3所示，为阻值接触检验法的电路原理图。利用此方法作为待测产品与高压输出端接触是否可靠的检验，原则上比上述方式或方法要可靠，但是仍存在一种问题，因此种方式是在设备使用前或每次产品测试前，加装一阻抗值检验电路做为是否接触良好的判断依据。此方法确实是可以确实检验出是否接触良好，但这方式在实际生产检验环境下会出现判断的不可靠现象，因只在设备使用前做检验，但无法确保往后的使用时间内没有接触不良或断线现象，或是每次产品测试前做检验，但无法在产品整的检验过程中监测产品是否接触可靠，因此也易造成误判现象，因此这种检验方式可靠性也不高。另外因每次测试前须先做判断，因此同样存在测试时间被延长，测试效率低的缺点，不符合经济效益。

由此可见，为了保证测试产品的质量可靠性，急需一种测试可靠性良好、测试效率高的耐压测试技术。

发明内容

本发明提供一种耐压测试器的连接检测装置，能够解决耐压测器可靠性不高及测试效率低的问题。

本发明提供一种耐压测试器的连接检测装置，包括：

阻抗检测模块，用于检测测试器的连接检测装置与待测产品之间电连接并产生推动信号；

可编程逻辑闸，用于将阻抗检测模块的推动信号与设定信号进行比较后产生连接判定信号并输出给微处理器；

微处理器，用于接收可编程逻辑闸的连接判定信号并根据连接判定信号控制高压输出模块的启动或关闭；

高压输出模块，用于根据微处理器的命令产生高压测试信号。

优选地，所述阻抗检测模块包括至少一个低阻抗导通检测装置和至少一个高阻抗导通检测装置，隔离感应装置及隔离电源装置，其中，隔离电源装置为低阻抗导通检测装置、高阻抗导通检测装置及隔离感应装置提供工作电源，低阻抗导通检测装置和高阻抗导通检测装置连接到隔离感应装置，隔离感应装置输出至所述可编程逻辑闸。

优选地，所述隔离感应装置包括多个隔离感应电路，每个低阻抗导通检测装置或高阻抗导通检测装置均连接有一个隔离感应电路；所述隔离电源装置包括多个隔离电源，每个低阻抗导通检测装置或高阻抗导通检测装置均连接一个隔离电源。

优选地，高压输出模块包括主控制器和高压产生装置，主控制器通过I/O控制器连接至所述的微处理器，高压产生装置连接于主控制器。

优选地，所述微处理器上连接有报警指示装置。

优选地，所述微处理器还连接有用于接收远端测试控制信号的遥控控制模块。

优选地，所述高压输出模块还包括多个高压测试通道，所述高压测试通道分别连接高压产生装置的高压端和低压端，高压测试通道内具有用于选择高压端输出或低压端输出的选通开关。