[发明专利]微粒子PM检测方法及设备有效

专利信息
申请号: 201210087683.X 申请日: 2012-03-28
公开(公告)号: CN102608010A 公开(公告)日: 2012-07-25
发明(设计)人: 姚水良 申请(专利权)人: 姚水良
主分类号: G01N15/06 分类号: G01N15/06
代理公司: 南京天翼专利代理有限责任公司 32112 代理人: 朱戈胜
地址: 210002 江苏省南*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 微粒子 pm 检测 方法 设备
【权利要求书】:

1.一种利用反射光强度检测微粒子PM的方法,其特征是对含微粒子即PM气体进行过滤,分别检测过滤前后从气体来的反射光的强度,再根据所测得的反射光强度计算PM浓度。

2.一种利用散射光强度检测微粒子PM的方法,其特征是对含PM气体进行过滤,分别检测过滤前后从气体来的散射光的强度,再根据所测得的散射光强度计算PM浓度。

3.一种同时采用权利要求1和2的方法的微粒子PM检测方法,其特征是对含PM气体进行过滤,分别检测过滤前后从气体来的反射光和散射光的强度,再根据所测得的反射光强度和散射光强度计算PM浓度。

4.一种采用权利要求1或2或3的方法的微粒子PM检测仪器,其特征是包括处理器、气体PM采集单元、测定结果输出单元、测定结果存储装置和人机交互单元;处理器控制气体PM采集单元工作,气体PM采集单元的测定信号输出到处理器,处理器通过测定结果输出单元输出测定结果,人机交互单元和测定结果存储装置都与处理器连接;

所述气体PM采集单元包括检测腔和气体泵;检测腔的两端分别设有至少一个气体进口和至少一个气体出口,气体出口与气体泵的进气口连接;检测腔内,沿气流方向依次设有PM检测部、过滤部和零PM基点部;所述PM检测部和零PM基点部的结构相同,它们分别检测过滤部前后的气体产生的反射光强度和/或散射光强度,它们得到的光吸收和/或光散射后的光强度信号都传给处理器进行处理;所述气体泵的工作由处理器控制。

5.根据权利要求4所述的微粒子PM检测仪器,其特征是所述PM检测部和零PM基点部的结构相同,它们的结构包括风道,以及安装在风道四壁上的光源、反射光板、散射光反射板、反射光强度检测部和散射光强度检测部;所述反射光板有两块,分别是第一反射光板和第二反射光板,第一反射光板和第二反射光板相互平行;散射光反射板与第一、二反射光板垂直,散射光强度检测部的探头朝向散射光反射板;光源和反射光强度检测部装在第一反射光板所在侧壁上,反射光强度检测部的探头和光源露在第一反射光板表面上,且朝向第二反射光板。

6.根据权利要求5所述的微粒子PM检测仪器,其特征是所述光源的位置靠近散射光强度检测部,反射光强度检测部的探头靠近散射光反射板。

7.根据权利要求4所述的微粒子PM检测仪器,其特征是所述反射光强度检测部和散射光强度检测部都是光电传感器;所述人机交互单元是显示装置和控制键盘;所述测定结果输出单元包括测定结果有线输出接口电路和测定结果无线输出接口电路,两个输出接口电路的输出端都连接处理器的测定结果输出端。

8.根据权利要求5或6所述的微粒子PM检测仪器,其特征是检测腔内:

沿气流方向PM检测部的前端设有恒温部;

沿气流方向零PM基点部的后端设有压力检测探头和温度检测探头,压力检测探头和温度检测探头的信号输出端连接处理器的输出端。

9.根据权利要求6所述的微粒子PM检测仪器,其特征是包括稀释气体温度控制器,稀释气体温度控制器内设有气体加热器和温度检测探头;温度检测探头的信号输出端连接处理器的输入端,气体加热器的工作状态由处理器控制;稀释气体温度控制器的进气口连接气体泵的排气口,稀释气体温度控制器的排气口分别连接PM检测部的风道、零PM基点部的风道和恒温部的风道。

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