[发明专利]一种三轴微机械陀螺仪有效
申请号: | 201210086873.X | 申请日: | 2012-03-26 |
公开(公告)号: | CN102636162A | 公开(公告)日: | 2012-08-15 |
发明(设计)人: | 王巍;张廷凯;徐宇新;邢朝洋;庄海涵 | 申请(专利权)人: | 北京航天时代光电科技有限公司 |
主分类号: | G01C19/56 | 分类号: | G01C19/56 |
代理公司: | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人: | 范晓毅 |
地址: | 100854*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 微机 陀螺仪 | ||
1.一种三轴微机械陀螺仪,其特征在于:包括基板(1)和固定安装在基板(1)上的陀螺仪主体(2),其中陀螺仪主体(2)包括平面检测单元和z轴检测单元,所述平面检测单元包括第一支撑梁(3)、联动梁(4)、驱动电极(13)和第一质量块(5),其中第一质量块(5)包括两个沿y轴分布的x轴检测质量块(x1、x2)和两个沿x轴分布的y轴检测质量块(y1、y2),且所述四个质量块以基板(1)中心点对称分布,联动梁(4)与支撑梁(3)均为四个,均依次将x轴检测质量块(x1)、y轴检测质量块(y1)、x轴检测质量块(x2)和y轴检测质量块(y2)连接,驱动电极(13)为四个,分别与四个第一质量块(5)连接,此外基板(1)上对应第一质量块(5)的位置制作金属层,形成平面检测下电极(10);z轴检测单元由八个模块组成,其中四个模块(a、b、c、d)沿y轴在x轴检测质量块(x1、x2)两侧分布,剩余四个模块(e、f、g、h)沿x轴在y轴检测质量块(y1、y2)两侧分布,每个模块包括第二支撑梁(6)、解耦梁(7)、驱动梁(8)、第二质量块(9)和检测电极(11),其中驱动梁(8)一端连接第一质量块(5),另一端连接第二质量块(9),解耦梁(7)分别连接第二质量块(9)和检测电极(11),第二支撑梁(6)连接检测电极(11)。
2.根据权利要求1所述的一种三轴微机械陀螺仪,其特征在于:所述第一支撑梁(3)包括内支撑梁(3b)和外支撑梁(3a),其中内支撑梁(3b)两端分别连接相邻的x轴检测质量块和y轴检测质量块的内端,外支撑梁(3a)两端分别连接相邻的x轴检测质量块和y轴检测质量块的外端。
3.根据权利要求2所述的一种三轴微机械陀螺仪,其特征在于:所述内支撑梁(3b)和外支撑梁(3a)的拐角处焊接在基板(1)上。
4.根据权利要求1所述的一种三轴微机械陀螺仪,其特征在于:所述驱动电极(13)包括固定电极(13a)和可动电极(13b),固定电极(13a)固置在基板(1)上,可动电极(13b)与第一质量块(5)连接。
5.根据权利要求1所述的一种三轴微机械陀螺仪,其特征在于:所述检测电极(11)包括检测固定电极(11b)和检测活动电极(11a),检测固定电极(11b)固置在基板(1)上,检测活动电极(11a)连接第二支撑梁(6)和解耦梁(7)。
6.根据权利要求1所述的一种三轴微机械陀螺仪,其特征在于:所述驱动梁(8)为z字型梁或H型梁。
7.根据权利要求1所述的一种三轴微机械陀螺仪,其特征在于:所述第一质量块(5)和第二质量块(9)上布置有孔(12)。
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