[发明专利]一种旋转反射体面天线经纬仪激光靶标测量方法有效

专利信息
申请号: 201210086846.2 申请日: 2012-03-29
公开(公告)号: CN102607463A 公开(公告)日: 2012-07-25
发明(设计)人: 王庆东 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第五十四研究所
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24;G01C1/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 050081 河北省石家*** 国省代码: 河北;13
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摘要:
搜索关键词: 一种 旋转 反射 体面 天线 经纬仪 激光 靶标 测量方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及了卫星通讯、天文探测领域中一种旋转反射体面天线经纬仪激光靶标测量方法。

背景技术

随着卫星通信技术和天文探测技术的迅速发展,中大型面天线的应用越来越广泛。对于直径≥8米的中大型面天线,成熟的光学测量方法有经纬仪钢带尺法,单五棱镜法和双五棱镜法。实践中上述方法具有如下的缺点:钢带尺的弧长标记转移到天线面过程中,工作量大且操作误差无法精确控制;棱镜需要根据不同测量范围进行磨制,成本较高且适应性差。

发明内容

经纬仪激光靶标测量法是以常规光学测量方法为基础,取其即时测量即时判断的优点,摒弃其它测量方式操作不便、适应性差等缺点而产生出来的。

本发明的目的是这样实现的:一种旋转反射体面天线经纬仪激光靶标测量方法,是对旋转反射体面天线的面型精度进行测量的方法,其特征在于包括以下步骤:

(1)将反射体朝天放置;

(2)安装旋转工装,调整旋转工装的旋转轴线与反射体旋转轴线重合,调整反射体使旋转工装的旋转轴线铅垂;

(3)将经纬仪A和经纬仪B采用自上而下的顺序依次安装在旋转工装上,并精确对中和整平;

(4)在天线直角坐标系下,取天线面型上某一点Pi(xi,zi)解算经纬仪A和经纬仪B的天顶角度ai和bi

Hb<zi<Ha+Hb时有公式:

ai=180-arctan[xi/(Ha+Hb-z1)]

bi=arctan[xi/(zi-Ha)]

zi<Hb时有公式:

ai=180-arctan[xi/(Ha+Hb-z1)]

bi=180-arctan[xi/(Hb-zi)]

Ha+Hb<zi时有公式:

ai=arctan[xi/(zi-Ha-Hb)]

bi=arctan[xi/(zi-Hb)]

其中,xi为点Pi的x轴向坐标值;zi为点Pi的z轴向坐标值;Ha为经纬仪A到经纬仪B的距离;Hb为经纬仪B到天线直角坐标系原点的距离;

(5)按俯仰角度bi将经纬仪B的激光束投射到天线面上作为靶标,调整经纬仪A瞄准靶标后读出实测俯仰角度ai′并记录;

(6)锁定经纬仪A、B方位,旋转工装使其整体旋转至下一点,重复步骤(5)动作读出经纬仪A俯仰角度数值,直至第一环读取完毕;调整经纬仪B俯仰角度到第二环,重复上述动作直至读取完毕所有预定点的俯仰角度数值;

(7)计算各点俯仰角度实测值与解算值的误差值,之后计算均方根误差。

其中,步骤(7)中各点的轴向误差Δzi计算公式为:

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