[发明专利]一种基于PMCC算法的次声源定向方法无效

专利信息
申请号: 201210085619.8 申请日: 2012-03-28
公开(公告)号: CN103369446A 公开(公告)日: 2013-10-23
发明(设计)人: 冯浩楠;杨亦春 申请(专利权)人: 中国科学院声学研究所
主分类号: H04R29/00 分类号: H04R29/00
代理公司: 北京法思腾知识产权代理有限公司 11318 代理人: 杨小蓉;杨青
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 基于 pmcc 算法 声源 定向 方法
【权利要求书】:

1.一种基于PMCC算法的次声源定向方法,其特征在于,该方法利用次声校准器产生若干个校准信号对次声传感器进行校准,通过校准数据得到次声传感器频率灵敏度曲线上的截止频率点的高频点和低频点,进而计算出膜片性能常数误差,和单个次声传感器相位误差,然后,得到单个传感器产生的速度误差和相位误差,及其由若干个次声传感器组成的传感器网络的速度误差和相位误差,最终,将该速度误差和相位误差作为参数计算PMCC算法中的探测元素间的权重距离,基于该PMCC算法得到次声源定向图。

2.根据权利要求1所述的基于PMCC算法的次声源定向方法,其特征在于,所述的次声源定向方法的步骤包括:

1)通过若干个次声校准传感器产生若干个周期不同的校准信号,所述的次声校准器输出校准信号为正弦信号,幅度为P;

2)若干个校准正弦信号的峰值Vi除以幅度P得到Ti,利用Ti得到次声传感器频率灵敏度曲线,从曲线上得出高频截止点wh和低频截止点wl

3)利用高频截止点wh和低频截止点wl计算膜片性能常数误差δb;

4)进一步计算次声传感器在频率点wj(j=1,2,...,J)的相位误差δφj

5)再计算单个次声传感器在频率点wj(j=1,2,...,J)的速度误差δVj和相位误差δθj

6)计算所述的次声传感器网络在频率点wj(j=1,2,...,J)的速度误差δVj和相位误差δθj

7)最后,计算所述的PMCC算法中求取定向图的权重距离。

3.根据权利要求1或2所述的基于PMCC算法的次声源定向方法,其特征在于,所述的次声源定向方法的具体步骤包括:

1)通过若干个次声校准传感器产生若干个周期不同的校准信号,所述的次声校准器输出校准信号为正弦信号,幅度为P;

2)若干个校准正弦信号的峰值Vi除以幅度P得到Ti,利用Ti对对应的频率灵敏度Ki进行三次样条插值得到次声传感器频率灵敏度曲线,从曲线上得出3dB高频截止点wh和低频截止点wl

3)利用3dB高频截止点wh和低频截止点wl计算膜片性能常数误差δb:

wh=aRV(v+ab)(2vFm)2-(ab+v)2wl=ar[(2vFm)2-(ab+v)2]-1/2δb=b-bb=πR4/16TT=ρh(f2πm2.405)2]]>

式中,v为传感器后腔的体积,V为传感器前腔的体积,r为传感器内部的通孔声阻,R为传感器通气口的声阻,Fm为传感器归一化响应最大值;b为膜片测量的性能常数;为膜片标准性能常数,T为膜片张力,ρ为膜片材料密度,h为膜片厚度,f为膜片的第一共振频率,m为膜片半径,a为常数;

4)进一步计算次声传感器在频率点wj(j=1,2,...,J)的相位误差δφj

δφj=-a2rwjg2δb,j=1,...,Jg=r(ab+v)]]>

其中,J为PMCC计算中划分的频点数;

5)再计算单个次声传感器在频率点wj(j=1,2,...,J)的速度误差δVj和相位误差δθj

δVj=VtΔφj180,j=1,2,...,Jδθj=-Δφjπ,j=1,2,...,J]]>

6)计算所述的次声传感器网络在频率点wj(j=1,2,...,J)的速度误差δVj和相位误差δθj

δVj=2N(N-1)Σl>kN(δVl,j)2+(δVk,j)2,l,k=1,2,...N;j=1,2,...,Jδθj=2N(N-1)Σl>kN(δθl,j)2+(δθk,j)2,l,k=1,2,...N;j=1,2,...,J]]>

其中,δVl,j,δθl,j为第l个传感器的在频率点wj(j=1,2,...,J)的速度误差和相位误差,δVk,j,δθk,j为第k个传感器的在频率点wj(j=1,2,...,J)的速度误差和相位误差,N为传感器网络中包含传感器的个数;

7)最后,计算所述的PMCC算法中求取定向图的权重距离:

dj=(V2-V1)2δVj+(θ2-θ1)2δθj]]>

式中,dj表示在频率点wj上由传感器网络探测元素1,2之间的权重距离,V1和V2为传感器网络探测元素1和2的速度信息,θ1和θ2为传感器网络探测元素1和2的角度信息。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院声学研究所,未经中国科学院声学研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210085619.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top