[发明专利]一种针对非金属麦拉片位置不良的视觉检测方法及其装置

权利要求书

1.一种针对非金属麦拉片位置不良的视觉检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤1，由监测区域定位模块对被检工件的非金属麦拉片所在区域进行区域定位，得到定位区域；

步骤2，基准获取模块针对步骤1中已经定位的非金属麦拉片的定位区域随机抽取一个良品，针对良品进行检测基准区域获取，采样基准得到基准比对参数；

步骤3，边缘提取模块针对步骤1中的定位区域进行对非金属麦拉片的边缘图像提取，并针对提取的非金属麦拉片的边缘图像进行链码跟踪获取若干条链码，

步骤4，最优轮廓链码提取模块针对步骤3中获取的若干条链码进行处理后得到最优轮廓链码，并对最优轮廓链码进行处理后得到最优轮廓链码的平均高度和平均宽度；

步骤5，比对模块将步骤4中的得到最优轮廓链码的平均高度和平均宽度与步骤2中的基准比对参数进行比对，符合对比条件即判断为合格品。

2.根据权利要求1所述的一种针对非金属麦拉片位置不良的视觉检测方法，其特征在于，所述的步骤1，具体操作方法如下：

步骤101，首先获取非金属麦拉片的图像：即将电气元件固定在治具上，在正对电气元件的方向上加上均匀光源，然后将工业CCD相机正对电气元件进行拍摄，得到采集的非金属麦拉片图像；

步骤102，设定需要检测的区域为矩形，矩形长宽均大于非金属麦拉片的长宽，并在步骤101采集的非金属麦拉片图像中绘制若干需要检测的区域，所述需要检测的区域即为步骤1中的定位区域。

3.根据权利要求1所述的一种针对非金属麦拉片位置不良的视觉检测方法，其特征在于，所述步骤2中，抽取良品后，获得同连通端子大小类似的矩形样本，记录下矩形样本的长和宽作为比对样本，矩形样本的长和宽即步骤2中的基准比对参数，定义矩形样本的宽即基准宽度为w₀，矩形框的长即基准高度为n₀。

4.根据权利要求1所述的一种针对非金属麦拉片位置不良的视觉检测方法，其特征在于，所述步骤3中，边缘提取算子使用Canny算子，获取区域内的边缘图像，Canny算子中三个阈值参数即：高斯滤波器的大小、滞后阈值之高阈值以及滞后阈值之低阈值；定义高斯滤波器的大小为3.0，滞后阈值之高阈值为0.35，滞后阈值之低阈值为0.80。

5.根据权利要求1所述的一种针对非金属麦拉片位置不良的视觉检测方法，其特征在于，所述步骤3中，链码跟踪的具体步骤如下：

步骤301，在检测区域内，按照从左至右，从上到下的顺序搜索，找到的第一个白色点即是最左上方的边界点，记为A；

步骤302，在A的4-邻域内遍历任意一个边界点，记为B；

步骤303，从B开始遍历，在8-邻域内按照右、右上、上、左上、左、左下、下、右下的顺序找相邻点中的边界点C；

步骤304，若C同A相等，则表明该链码首尾相连，则结束寻找；否则，若C点的4-邻域内没有白色点，则认为C是孤立的边界点，将C点作为该链码的结束点；

步骤305，重复步骤301至步骤304，直至遍历所有边缘点，得到一条或多条链码。

6.根据权利要求1所述的一种针对非金属麦拉片位置不良的视觉检测方法，其特征在于，所述步骤4中，最优轮廓链码提取的具体方法是：

设链码长度阈值为ChainThre，设链码首尾距离阈值为DistThre，则链码满足以下条件的即为最优轮廓：

约束条件1：Len(L_i)＞＝ChainThre；

约束条件2：Dis(Pb_i，Pe_i)＜＝DistThre；

上述约束条件中，Len(L_i)表示第i条链码的长度，Pb_i和Pe_i分别表示第i条链码的起始点和结束点，Dis(Pb_i，Pe_i)表示起始点和结束点之间的欧式距离，约束条件1表示链码长度需大于或等于链码长度阈值，约束条件2表示起始点和结束点之间的欧式距离需小于或等于首尾距离阈值。