[发明专利]光学平台隔振性能声光调制检测装置与检测方法无效

专利信息
申请号: 201210082480.1 申请日: 2012-03-27
公开(公告)号: CN102620906A 公开(公告)日: 2012-08-01
发明(设计)人: 苗润才;张宗权;杨宗立;谢甜 申请(专利权)人: 西安航空技术高等专科学校
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00
代理公司: 西安永生专利代理有限责任公司 61201 代理人: 申忠才
地址: 710077 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 光学 平台 性能 声光 调制 检测 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种光学平台隔振性能声光调制检测装置,其特征在于:在光学平台(12)的中心位置放置台面水槽(9),地面上光学平台(12)的前侧放置地面水槽(14),地面水槽(14)和台面水槽(9)的长度方向与光学平台(12)的长度方向平行,地面水槽(14)和台面水槽(9)内装有水,光学平台(12)左侧地面上设置有安装架(2)、右侧地面上设置有显示屏(11),安装架(2)上设置有激光器(4)和位于激光器(4)激光出射方向的分束镜(5),在分束镜(5)的透射光方向设置有分束反射镜(6),激光器(4)上设置有通过导线与计算机(1)相连的CCD摄像头(3),分束镜(5)的反射光方向地面水槽(14)的中心平面上设置有左地面反射镜(15)、分束反射镜(6)的反射光方向光学平台(12)上台面水槽(9)的中心平面上设置有左台面反射镜(7),地面水槽(14)的左侧壁中心线上端左地面反射镜(15)的反射光方向上设置有光阑(8),台面水槽(9)的左侧壁中心线上端位置左台面反射镜(7)的反射光方向上设置有光阑(8),地面水槽(14)内水面反射光方向地面上设置有右地面反射镜(13),台面水槽(9)内水面反射光方向光学平台(12)上设置有右台面反射镜(10),显示屏(11)位于右地面反射镜(13)和右台面反射镜(10)的反射光方向。

2.按照权利要求1所述的光学平台隔振性能声光调制检测装置,其特征在于:所述的地面水槽(14)和台面水槽(9)长方形水槽。

3.按照权利要求1或2所述的超大尺度光学平台受激振幅一致性检测装置,其特征在于:所述的地面水槽(14)和台面水槽(9)内的水位高度相同。

4.按照权利要求1所述的光学平台隔振性能声光调制检测装置,其特征在于:所述的光阑(8)的孔径为2.3mm。

5.按照权利要求1所述的光学平台隔振性能声光调制检测装置,其特征在于:所述的地面水槽(14)底部中心与台面水槽(9)底部中心在地面上投影点之间的距离至少为光学平台(12)宽度的1.1倍。

6.一种使用权利要求1光学平台隔振性能声光调制检测装置的检测方法,其特征在于它是由下述步骤组成:

A.在地面水槽(14)、台面水槽(9)内分别注入蒸馏水,地面水槽(14)和台面水槽(9)内蒸馏水的水位高度为80mm。

B.分别调整左地面反射镜(15)和左台面反射镜(7)的角度至左地面反射镜(15)和左台面反射镜(7)的反射光通过光阑(8),分别与地面水槽(14)、台面水槽(9)长度方向的侧壁平行,使左地面反射镜(15)的反射激光束在地面水槽(14)水面上的入射点位于地面水槽(14)对角线相交的中心位置、反射激光束与地面水槽(14)内水面的入射角为88.5°,使左台面反射镜(7)的反射激光束在台面水槽(9)水面上的入射点位于台面水槽(9)对角线相交的中心位置、反射激光束与台面水槽(9)内水面的入射角为88.5°。

C.在地面水槽(14)底部中心与台面水槽(9)底部中心在地面上投影连线的垂直平分线上显示屏(11)的左侧,用质量为500g的带圆锥体橡胶头的重锤,由10cm高处自由落下敲击地面,地面水槽(14)底部地面振动和台面水槽(9)底部光学平台振动在地面水槽(14)和台面水槽(9)内水表面形成表面波,水表面波对入射激光束产生调制反射,经地面水槽(14)水表面波调制反射到右地面反射镜(13)、由右地面反射镜(13)反射到显示屏(11)上,在显示屏(11)上呈现出干涉条纹,经台面水槽(9)水表面波调制反射到右台面反射镜(10)、由右台面反射镜(10)反射到显示屏(11)上,在显示屏(11)上呈现出干涉条纹。

用CCD摄像头3连续采集显示屏(11)上的干涉条纹,并转换成数字信号输出到计算机(1),选择连续采集的两列干涉条纹中各自条纹个数最多一列干涉条纹,并分别对选择的干涉条纹个数计数,计算机(1)按下式计算地面水槽(14)所处位置地面受激振动振幅和台面水槽(9)底部光学平台的受激振动振幅:

A0=0.944(N-1)-5.5

式中A0为地面水槽(14)或台面水槽(9)所处位置的受激振动振幅,单位为μm,N为地面水槽(14)或台面水槽(9)内水的表面波对入射激光束产生调制反射在显示屏(11)上呈现的条纹个数最多的一列干涉条纹个数;比较在同一激励下地面受激振幅与光学平台受激振动振幅的大小,判断光学平台(12)的隔振效果。

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