[发明专利]准直器的制造方法、准直器以及X 射线CT 装置无效

专利信息
申请号: 201210080454.5 申请日: 2012-03-23
公开(公告)号: CN103310867A 公开(公告)日: 2013-09-18
发明(设计)人: 黑岩信好;中野秀士;南部修也;八百井佳明 申请(专利权)人: 株式会社东芝;东芝医疗系统株式会社
主分类号: G21K1/02 分类号: G21K1/02;G01T1/20
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 徐冰冰;黄剑锋
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 准直器 制造 方法 以及 射线 ct 装置
【说明书】:

本申请要求2012年3月8日申请的在先日本专利申请第2012-52341号的优先权并其全部内容通过引用而包含于此。 

技术领域

本发明在总体上涉及准直器(collimater)的制造方法、准直器以及X射线CT(computer tomography)装置。 

背景技术

在X射线CT(Computer Tomography)装置中,为了增多检测点数量而提高空间分辨率,使用了闪烁器(scintillator)的X射线检测器得到使用。 

这里,根据希望高速且高精细度地拍摄大范围的要求,逐渐采用不仅在通道(channel)方向上、而且在切片(slice)方向(断层方向)上也具备多个光电转换元件的X射线检测器。在这样的X射线检测器中,若增加切片方向的光电转换元件的数量,则不仅在通道方向上、而且在切片方向上也需要去除散射X射线。 

因此,提出了将多个由平板状的基部和从基部突出的多个壁部一体成形的单元层叠而得到的准直器。 

但是,若将基部和壁部一体成形,则基部和壁部相交差的部分的角带有圆度,从而开口率(aperture ratio)降低。 

该情况下,X射线检测器的几何学效率成为检测部的有效面积相对于X射线检测器的总面积的比率,因此若开口率降低则几何学效率降低。 

发明内容

本发明的实施方式提供一种能够提高几何学效率的准直器的制造方法、准直器以及X射线CT装置。 

实施方式的准直器的制造方法,具备如下工序:形成第一板状部的工 序,该第一板状部具有对应于放射线源的焦点位置以规定角度倾斜的多个第一狭缝(slit);形成第二板状部的工序,该第二板状部具有对应于上述焦点位置以规定角度倾斜的多个第二狭缝;以及,以使上述第一狭缝与上述第二狭缝对峙并使多个上述第一板状部与多个上述第二板状部交差的方式进行组装的工序。并且,在以使上述第一狭缝与上述第二狭缝对峙并使多个上述第一板状部与多个上述第二板状部交差的方式进行组装的工序中,具有以下步骤:使上述第一狭缝的开口部侧保持上述第二板状部的未设有上述第二狭缝的部分;使上述第二板状部以仿照上述第一狭缝的倾斜的方式进行倾斜;以及,使进行了上述倾斜的上述第二板状部向上述第一狭缝的里侧移动。 

根据上述方法,能够提高几何学效率。 

附图说明

图1是用于例示X射线CT装置的概要结构的示意性框图。 

图2是用于例示放射线检测器的示意性立体图。 

图3是用于表示图2的A-A截面的示意性截面图。 

图4A是用于例示准直器的外观的示意性立体图。 

图4B是上述准直器的示意分解图。 

图5是用于例示构成准直器的板状部的示意图。 

图6是用于例示区块部的示意立体图。 

图7A是用于例示模块(module)单位的格子构造部的外观的示意性立体图。 

图7B是上述模块单位的格子构造部的示意性分解图。 

具体实施方式

下面,参照附图,对实施方式进行例示。另外,各附图中,对相同的构成要素附加同一符号而适当省略详细的说明。 

此外,在下文中作为一例而以放射线是X射线的情况为例进行说明,但也能够适用于γ射线等其他放射线。 

因此,例如在将作为X射线检测器而例示出的结构适用于其他放射线 的情况下,将“X射线”替换为“其他放射线(例如,γ线)”即可。 

[第一实施方式] 

首先,对本实施方式的准直器1以及X射线CT装置100进行例示。 

图1是用于例示X射线CT装置的概要结构的模式框(block)图。 

如图1所示,在X射线CT装置100中,设有X射线球管101、旋转环102、二维检测部103、数据收集电路(DAS)104、非接触数据传送装置105、架台驱动部107、集电环(spring)108以及处理部106。 

作为放出X射线的X射线源的X射线球管101是产生X射线的真空管,被旋转环102支撑。从未图示的高电压产生装置经由集电环108向X射线球管101供给X射线照射所需要的电力(管电流、管电压)。X射线球管101使被所供给的高电压加速后的电子向靶(target)进行碰撞,从而向位于有效视野区域FOV内的被检体照射X射线。 

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