[发明专利]交流电压采样电路

说明书

技术领域

本发明涉及一种交流电压采样电路，尤其涉及一种能够对高电压进行采样的交流电压采样电路。

背景技术

在现有的电源保护电路中，对电源线路的采样一般采用低压采样，经过变压器后转换成直流电压再经过采样电阻和相关运放电路进行采样，但这种方式的采样精度比较差，受制约在器件的一致性上，不能有效的反应实际数值。同时，产品在实际运行过程中，因为现场电压的不确定性因素，往往会出现电源波动，有时甚至会出现上千伏的瞬间电压值，这时的电压采样电阻因为是直接与电源相连接，在上千伏的瞬间电压的冲击下，会经常出现电压采样的电路出现故障的现象。

有鉴于此，有必要对现有的电压采样电路予以改进，以解决上述问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种交流电压采样电路，该交流电压采样电路不仅能够进行低压采样，同时还能够对交流高电压进行采样。

为实现上述发明目的，本发明的一种交流电压采样电路，其可对交流电压进行采样，包括交流电源L、N线路及与所述交流电源L、N线路相连接的至少一个电压比较器，其中所述交流电源L、N线路与所述电压比较器之间还连接有采样电阻，所述采样电阻为耐交流电压冲击的玻璃釉厚膜电阻。

作为本发明的进一步改进，所述交流电源L、N线路上分别连接有一个玻璃釉厚膜电阻。

作为本发明的进一步改进，所述玻璃釉厚膜电阻为型号为1M/0.5W的玻璃釉厚膜电阻。

作为本发明的进一步改进，所述交流电压采样电路中设置有三个电压比较器。

作为本发明的进一步改进，所述第一个电压比较器与交流电源L线相连，第二个电压比较器与交流电源N线相连，第三个电压比较器的两个输入端分别与第一个电压比较器的输出端和第二个电压比较器的输出端相连接。

作为本发明的进一步改进，所述交流电压采样电路设有基准电压值TV1，所述电压比较器用以将交流电压与基准电压值TV1作比较，以完成电压信号的采集。

作为本发明的进一步改进，所述交流电压采样电路中还设置有一电压转换接口ADU用以将采集到的电压信号输送出去。

作为本发明的进一步改进，所述交流电压采样电路可通过所述电压转换接口ADU与外部处理芯片相连接以对采集到的电压信号进行处理。

作为本发明的进一步改进，所述外部处理芯片包括型号为PD78F9234的主芯片。

作为本发明的进一步改进，所述交流电压采样电路中还包括有稳压二极管、电容以及若干电阻。

与现有技术相比，本发明的优势在于：本发明的交流电压采样电路通过设置有耐交流电压冲击的玻璃釉厚膜电阻，使得本发明的交流电压采样电路不仅能够进行低压采样，在交流高电压中，同样能够稳定可靠的对交流高电压进行采样，并提供更加准确的数据，进一步保证电路中其他元器件更加稳定可靠的运行。

附图说明

图1是本发明的交流电压采样电路的电路图。

图2是与本发明的交流电压采样电路配合使用的外部处理芯片的安装电路图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面结合附图和具体实施例对本发明进行详细描述。

如图1所示，本发明的一种交流电压采样电路，其可对交流电压进行采样，包括交流电源L、N线路（11、12）、与所述交流电源L、N线路（11、12）相连接的至少一个电压比较器以及连接所述交流电源L、N线路（11、12）与所述电压比较器的采样电阻（R7、R9）。本实施方式中，所述采样电阻（R7、R9）为型号为1M/0.5W的耐交流电压冲击的玻璃釉厚膜电阻，且所述交流电源L、N线路（11、12）上分别连接有一个这样的玻璃釉厚膜电阻，从而所述玻璃釉厚膜电阻（R7、R9）可直接对交流电源L、N线路（11、12）进行采样，并得到采样电压。所述交流电压采样电路中还包括有稳压二极管13、电容C8与C12以及若干电阻（R8、R10~R12、RW3、R14），其中，所述电阻RW3为滑动电阻。