[发明专利]校正电路、驱动电路、发光装置及电流脉冲波形校正方法无效

专利信息
申请号: 201210078472.X 申请日: 2012-03-22
公开(公告)号: CN102738700A 公开(公告)日: 2012-10-17
发明(设计)人: 前田修;大尾桂久;本多正治 申请(专利权)人: 索尼公司
主分类号: H01S5/042 分类号: H01S5/042
代理公司: 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 代理人: 武玉琴;陈桂香
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 校正 电路 驱动 发光 装置 电流 脉冲 波形 方法
【权利要求书】:

1.一种校正电路,其包括:

温度上升导出部,其用于导出多通道表面发光型激光器阵列中第一通道的由一个以上的第二通道的发热引起的温度上升量,所述第二通道是所述激光器阵列包括的所有通道中的至少邻近所述第一通道的通道;以及

第一校正部,其基于由所述温度上升导出部导出的所述温度上升量对从电流源输出到所述第一通道的电流脉冲的波形进行校正,所述电流源能够针对所述激光器阵列的各个通道独立地驱动所述激光器阵列。

2.如权利要求1所述的校正电路,其中,

针对各个所述第二通道,所述温度上升导出部具有第一RC时间常数电路,所述第一RC时间常数电路的热阻R和热容量C的大小取决于所述第一通道和所述第二通道之间的距离,并且

所述温度上升导出部基于所述热阻R、所述热容量C以及与所述第二通道中流动的电流的大小相对应的热流W来导出所述温度上升量。

3.如权利要求2所述的校正电路,其中,所述第一校正部基于环境温度和输出到所述第一通道的电流量来校正所述温度上升量。

4.如权利要求3所述的校正电路,其中,

所述激光器阵列具有检测所述环境温度的温度检测器件,并且

所述第一校正部基于由所述温度检测器件获得的所述环境温度和输出到所述第一通道的所述电流量来校正所述温度上升量。

5.如权利要求1所述的校正电路,其还包括:

第二校正部,其对所述电流脉冲的被所述第一校正部校正后的波形进行校正,使得所述第一通道的光输出的脉冲波形接近矩形。

6.如权利要求5所述的校正电路,其中,所述第二校正部包括多个用于使所述电流脉冲的波形高度值随时间衰减的第一时间常数电路,各个所述第一时间常数电路的RC时间常数彼此不同,所述多个第一时间常数电路中的一个以上的第二时间常数电路的RC时间常数具有在20ns以上且50ns以下的范围内的值,且所述多个第一时间常数电路中的除所述第二时间常数电路之外的一个以上的第三时间常数电路的RC时间常数具有大于50ns的值。

7.如权利要求6所述的校正电路,其中,所述第三时间常数电路的RC时间常数具有在300ns以上且1500ns以下的范围内的值。

8.如权利要求6所述的校正电路,其中,

各个所述通道具有垂直谐振腔结构,所述垂直谐振腔结构具有布置在一对多层膜反射镜之间的活性层,并且

所述第二校正部校正所述电流脉冲的波形,使得所述电流脉冲的波形高度值发生与所述活性层的温度变化相对应的变化。

9.如权利要求8所述的校正电路,其中,所述第二校正部包括多个用于调整所述电流脉冲的波形高度值的峰值的第四时间常数电路,各个所述第四时间常数电路的RC时间常数彼此不同,所述多个第四时间常数电路中的一个以上的第五时间常数电路的RC时间常数具有在20ns以上且50ns以下的范围内的数值,所述多个第四时间常数电路中的除所述第五时间常数电路之外的一个以上的第六时间常数电路的RC时间常数具有大于50ns的值。

10.如权利要求9所述的校正电路,其中,所述第六时间常数电路的RC时间常数具有在300ns以上且1500ns以下的范围内的值。

11.如权利要求5所述的校正电路,其中,所述第二校正部包括第七时间常数电路和第八时间常数电路,所述第七时间常数电路用于给出用于校正所述电流脉冲的校正电流的时间变化,所述第八时间常数电路用于给出所述校正电流在各脉冲起始时刻的最大电流量,所述校正电流的所述最大电流量与所述校正电流的初始值等同,

所述第二校正部对所述电流脉冲的被所述第一校正部校正后的波形进行校正,使得所述电流脉冲的波形高度值根据所述第七时间常数电路的RC时间常数和所述第八时间常数电路的RC时间常数而随时间饱和。

12.如权利要求11所述的校正电路,其中,所述第七时间常数电路的RC时间常数和所述第八时间常数电路的RC时间常数具有在1μs以上且3μs以下的范围内的值。

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