[发明专利]用于光刻操作的间隔件双重图案化有效
申请号: | 201210059362.9 | 申请日: | 2009-01-08 |
公开(公告)号: | CN102543688A | 公开(公告)日: | 2012-07-04 |
发明(设计)人: | 克里斯托夫·皮埃拉 | 申请(专利权)人: | 益华公司 |
主分类号: | H01L21/033 | 分类号: | H01L21/033 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 孟锐 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 光刻 操作 间隔 双重 图案 | ||
1.一种用于产生用于集成电路的布局文件的方法,其包括:
选择所述电路的第一及第二布局元件;
界定经重新确定大小的第一元件的外形的数据表示;及
组合所述第一元件的所述外形的所述数据表示与所述第二元件的数据表示以得出初始图案的数据表示。
2.根据权利要求1所述的方法,其中组合所述第一元件的所述外形的所述数据表示与所述第二元件的所述数据表示包括对所述第一元件的所述外形的所述数据表示与所述第二元件的所述数据表示进行逻辑“或”运算。
3.根据权利要求1所述的方法,其中界定经重新确定大小的第一元件的外形的数据表示包括重新确定所述第一布局元件的大小、选择经重新确定大小的数据元件的外形及界定所述外形的数据表示。
4.一种产生用于形成用来将图案成像到衬底上的光掩模的数据集的方法,其包括:
选择第一及第二布局元件;
重新确定所述第一布局元件的大小并界定所述经重新确定大小的第一元件的数据表示;及
组合所述经重新确定大小的第一元件的所述数据表示与所述第二元件的数据表示;及
组合所述第一元件的数据表示与所述经重新确定大小的第一元件及所述第二元件的数据表示的所述组合以得出初始图案的表示。
5.根据权利要求4所述的方法,其中组合所述第一元件的外形的所述数据表示与所述第二元件的所述数据表示包括对所述第一元件的所述外形的所述数据表示与所述第二元件的所述数据表示进行逻辑“或”运算。
6.根据权利要求4所述的方法,其中组合所述第一元件的数据表示与所述经重新确定大小的第一元件及所述第二元件的数据表示的所述组合包括对所述第一元件的数据表示与所述经重新确定大小的第一元件及所述第二元件的数据表示的所述组合进行逻辑“与非”运算。
7.根据权利要求4所述的方法,其中通过体现于计算机可用媒体上的计算机程序产品来执行所述方法。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造