[发明专利]一种双波段探测器及利用双波段探测器的过采样探测方法

权利要求书

1.一种双波段探测器，包括探测器基板，其特征在于还包括：平行安装于探测器基板上的短波探测器和中波探测器，所述短波探测器或中波探测器中的探测器芯片分别分为两行，并以品字形交错排列；

所述短波探测器或中波探测器的探测芯片中均具有2组沿推扫方向前后排列的像元，每组像元按N行M列的矩阵形式排列；在推扫方向上，第一组的第N行像元与第二组的第1行像元间的间距为像元宽度的整数倍；其中，N为时间延迟积分级数。

2.如权利要求1所述的一种双波段探测器，其特征在于：所述短波探测器或中波探测器的每个探测器芯片的两组像元中，具有相同行号与列号的像元在垂直于推扫方向上错位半个像元排列。

3.一种采用权利要求1所述双波段探测器的过采样探测方法，其特征在于包括以下步骤：

步骤1：根据对目标的推扫速度v，确定探测器的曝光频率f＝kv/l，其中，l为同一组像元中相邻两行间的像元中心间距；k为探测器在时间上的过采样级数；

步骤2：所述探测器中的短波探测器和中波探测器中的像元分别根据曝光频率对目标进行曝光，获得每个像元的曝光图像；

步骤3：在短波探测器或中波探测器中，分别对两组像元获得的曝光图像进行重组形成目标图像数据；其中，在推扫方向上排列靠后的一组像元输出目标图像数据的奇像素；在推扫方向上排列靠前的一组像元输出目标图像数据的偶像素。