[发明专利]探测X射线辐射的方法和直接转换探测器的探测器系统无效
| 申请号： | 201210057340.9 | 申请日： | 2012-03-06 |
| 公开（公告）号： | CN102681001A | 公开（公告）日： | 2012-09-19 |
| 发明（设计）人： | E.克拉夫特;D.尼德尔洛纳;C.施罗特 | 申请（专利权）人： | 西门子公司 |
| 主分类号： | G01T1/24 | 分类号： | G01T1/24 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 谢强 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 探测 射线 辐射 方法 直接 转换 探测器 系统 | ||
1.一种利用直接转换探测器(3，5)光子计数地探测X射线辐射的方法，其中，
1.1.依据现有辐射能量产生与其尽可能成比例的电流脉冲和/或电压脉冲，并且
1.2.在超过预定的电流门限或电压门限的情况下在所述探测器(3，5)中计数所产生的电流脉冲和/或电压脉冲，
其特征在于，
1.3.将如下的门限用作预定的电流门限或电压门限：所述门限对应于具有比所使用的探测器材料的k边缘更小的能量的光子的探测。
2.根据上述权利要求1所述的方法，其特征在于，所使用的门限同时大于在测量系统中出现的噪声电平。
3.根据上述权利要求1至2中任一项所述的方法，其特征在于，所述门限被这样设置，使得其对应于小于23keV，优选小于20keV，优选小于10keV，优选在10keV与5keV之间的入射光子。
4.根据上述权利要求1至2中任一项所述的方法，其特征在于，使用连续工作的脉冲高度鉴别器(K)以用于测量。
5.根据上述权利要求1至2中任一项所述的方法，其特征在于，使用时钟控制工作的脉冲高度鉴别器(T)以用于测量。
6.根据上述权利要求1至2中任一项所述的方法，其特征在于，使用由至少两个逻辑关联地工作的脉冲高度鉴别器组成的组合以用于测量辐射，其中，使用至少一个连续工作的脉冲高度鉴别器(K)和至少一个时钟控制工作的脉冲高度鉴别器(T)。
7.根据上述权利要求1至6中任一项所述的方法，其特征在于，在所述探测器(3，5)中实施用于将分析电子器件的噪声最小化的措施。
8.根据上述权利要求1至7中任一项所述的方法，其特征在于，对于所有探测器元件使用同样的门限以用于优化由多个探测器元件组成的探测器的能量分辨率。
9.根据上述权利要求1至7中任一项所述的方法，其特征在于，对于每个探测器元件使用单独的门限以用于最大地减少由多个探测器元件组成的探测器的响应特性的漂移。
10.一种利用直接转换探测器元件光子计数地探测X射线辐射的探测器系统，其特征在于，所述探测器元件及其分析电子器件这样实施，使得执行根据上述权利要求中任一项所述的方法。
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