[发明专利]电能计量芯片电压影响量自动校正方法及其装置

权利要求书

1.一种电能计量芯片电压影响量自动校正方法，其特征在于，包括以下步骤：

为电能计量芯片加载不同的输入电压，分别测量阻性负载和指定输入电流条件下不同输入电压值的电表误差值，对不同的输入电压和对应的电表误差值直接或间接地进行曲线拟合，得到曲线参数；所述指定输入电流的强度小于标准输入电流强度的10％；

测量当前电压值，根据所述曲线参数计算当前电压值下的电表误差值，根据该电表误差值对测得的有功功率测量值进行校正。

2.根据权利要求1所述的电能计量芯片电压影响量自动校正方法，其特征在于，所述指定输入电流的强度为标准输入电流强度的5％。

3.根据权利要求2所述的电能计量芯片电压影响量自动校正方法，其特征在于，在所述为电能计量芯片加载不同的输入电压，分别测量阻性负载和指定输入电流条件下不同输入电压值的电表误差值的步骤之前，还包括以下步骤：

在阻性负载下，测量标准输入电压和所述指定输入电流下的电表误差值，得到基准电表误差值。

4.根据权利要求3所述的电能计量芯片电压影响量自动校正方法，其特征在于，在所述对不同的输入电压和对应的电表误差值间接地进行曲线拟合，得到曲线参数的步骤包括以下子步骤：

分别将不同输入电压值U(i)与所述标准输入电压相比，得到X(i)，其中i的范围是从1到N，N为不同输入电压值的数目；

分别将不同输入电压值对应的电表误差值E rr(i)与所述基准电表误差值相比，得到Y(i)；

将Y(i)和X(i)按照公式Y＝a＊X＊X+b＊X+c进行曲线拟合，得到曲线参数a、b和c，其中X(i)作为变量X的实测值，Y(i)作为变量Y的实测值。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的电能计量芯片电压影响量自动校正方法，其特征在于，在所述为电能计量芯片加载不同的输入电压，分别测量阻性负载和指定输入电流条件下不同输入电压值的电表误差值的步骤中，输入电压值在标准输入电压的正负20％范围内。

6.根据权利要求5所述的电能计量芯片电压影响量自动校正方法，其特征在于，所述测量当前电压值，根据所述曲线参数计算当前电压值下的电表误差值，根据该电表误差值对测得的有功功率测量值进行校正的步骤周期性执行。

7.根据权利要求5所述的电能计量芯片电压影响量自动校正方法，其特征在于，所述测量当前电压值，根据所述曲线参数计算当前电压值下的电表误差值，根据该电表误差值对测得的有功功率测量值进行校正的步骤在电压变化幅度超过预订门限时执行。

8.一种电能计量芯片电压影响量自动校正装置，其特征在于，包括：

加载单元，用于为电能计量芯片加载不同的输入电压；

第一测量单元，用于根据加载单元加载的不同的输入电压，分别测量阻性负载和指定输入电流条件下的电表误差值；

曲线拟合单元，用于根据加载单元加载的不同的输入电压和第一测量单元测得的对应的电表误差值直接或间接地进行曲线拟合，得到曲线参数；

第二测量单元，用于测量当前电压值；

计算单元，用于根据曲线拟合单元拟合得到的曲线参数计算在第二测量单元测得的当前电压值下的电表误差值；

第三测量单元，用于测量在第二测量单元测得的当前电压值和指定输入电流强度下的有功功率；

校正单元，用于根据计算单元计算所得的电表误差值对第三测量单元测得的有功功率测量值进行校正；

所述指定输入电流的强度小于标准输入电流强度的10％。

9.根据权利要求8所述的电能计量芯片电压影响量自动校正装置，其特征在于，加载单元加载的不同的输入电压值在标准输入电压的正负20％范围内；

所述第一测量单元，还用于在阻性负载下，测量标准输入电压和所述指定输入电流下的电表误差值，得到基准电表误差值。

10.根据权利要求8或9所述的电能计量芯片电压影响量自动校正装置，其特征在于，所述曲线拟合单元包括以下子单元：

X计算子单元，用于将加载单元加载的不同输入电压值U(i)与所述标准输入电压相比，得到X(i)；

Y计算子单元，用于将加载单元加载的不同输入电压值对应的电表误差值E rr(i)与所述基准电表误差值相比，得到Y(i)；

二次曲线拟合子单元，用于将Y计算子单元计算所得的Y(i)和X计算子单元计算所得的X(i)按照公式Y＝a＊X＊X+b＊X+c进行曲线拟合，得到曲线参数a、b和c，其中X(i)作为变量X的实测值，Y(i)作为变量Y的实测值。