[发明专利]一种LED寿命测试系统及其测试方法

权利要求书

1.一种LED寿命测试系统，其特征在于：包括利用温度箱进行老化的老化子系统、利用积分球进行光色电测量的测量子系统，以及对老化数据和测量数据进行整合分析的分析子系统；其特征在于：所述LED寿命测试系统还包括致冷器和用于焊接多颗待测LED的铝基板，所述致冷器包括散热器、电致冷板和安装盘；所述电致冷板和安装盘均固定安装于散热器上，所述安装盘的中部具有开口，使电致冷板镶嵌于所述开口中，并使散热器位于面向安装盘底面的一侧；所述铝基板紧贴固定于电致冷板的表面上，并使铝基板用于焊接LED引脚的一面朝上外露；所述铝基板具有多个用于连接LED的安装位，每个安装位的LED正、负极均与铝基板上各安装位一一对应的接线焊点电连接；

所述温度箱为冷热双区温度箱，所述冷热双区温度箱包括通过隔热板隔离而成的冷箱和热箱，所述隔热板上设置有至少一个贯穿所述隔热板的用于安装所述致冷器的温度箱安装孔位；所述温度箱安装孔位的结构要求满足：在所述致冷器通过其安装盘固定安装于温度箱安装孔位上时，使所述散热器置于冷箱中，并使电致冷板上的铝基板置于热箱中；

所述积分球的表面设置有用于安装所述致冷器的积分球安装孔位，所述积分球安装孔位的结构要求满足：在所述致冷器通过其安装盘固定安装于积分球安装孔位上时，使所述散热器置于积分球外部，并使电致冷板上的铝基板置于积分球的内部；以及，

所述老化子系统还包括用于为与铝基板上的各接线焊点相对应的各LED提供独立的老化测试用电流源的老化供电单元；所述测量子系统的测量供电单元包括一测量用电流源和使测量用电流源按序或随机地单独点亮与铝基板上的各接线焊点相对应的每颗LED的开关切换电路，以单独测量与铝基板上的各接线焊点相对应的每颗LED的光色电参数。

2.根据权利要求1所述的LED寿命测试系统，其特征在于：所述电致冷板与铝基板之间涂覆有导热硅脂层。

3.根据权利要求1所述的LED寿命测试用LED固定装置，其特征在于：所述铝基板紧贴电致冷板的表面涂覆有绝缘漆层，以保证铝基板上的任何一处过孔的铜皮均不与电致冷板发生电导通。

4.根据权利要求1所述的LED寿命测试系统，其特征在于：所述安装盘的底面上具有手持把手。

5.根据权利要求1所述的LED寿命测试系统，其特征在于：所述安装盘与散热器之间设置有环绕电致冷板布置的第一密封垫。

6.根据权利要求1所述的LED寿命测试系统，其特征在于：所述电致冷板的轮廓与开口具有相匹配的外形轮廓，使电致冷板恰好镶嵌于所述开口中。

7.根据权利要求1所述的LED寿命测试系统，其特征在于：所述安装盘设置有贯穿其顶面与底面的供铝基板上各接线焊点的引出线从安装盘的底面穿出的过线孔。

8.根据权利要求1所述的LED寿命测试系统，其特征在于：所述测量供电单元包括分别与铝基板上各接线焊点的正、负极接线焊点一一对应设置的各正、负极接线端子，各正极、负极接线端子分别均与测量用电源的正极、负极电连接，形成与铝基板上的各接线焊点一一对应的各供电电路，所述开关切换电路包括一一对应的电连接于各供电电路上的各受控开关。