[发明专利]间接变换型图像检测器有效

专利信息
申请号: 201210054391.6 申请日: 2007-12-20
公开(公告)号: CN102593140A 公开(公告)日: 2012-07-18
发明(设计)人: 冈田美广;吉见琢也 申请(专利权)人: 富士胶片株式会社
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 雒运朴
地址: 日本国*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 间接 换型 图像 检测器
【权利要求书】:

1.一种间接变换型图像检测器,具备:

将照射的放射线变换为光的荧光体;

接受所述光而产生电荷的半导体层;

相互并列配置的多个扫描布线;

与上述多个扫描布线交叉设置,并且与形成有上述扫描布线的金属层隔着绝缘层,由不同的金属层所形成的多个数据布线;

以矩阵状设置的薄膜晶体管,其与上述扫描布线和上述数据布线连接;

以矩阵状设置的传感部,其与上述薄膜晶体管连接;

多个公共布线,其为了向上述半导体层施加偏压电压而设置,与形成有上述扫描布线的金属层和形成有上述数据布线的金属层隔着绝缘层,由不同的金属层所形成;

第一绝缘层,其设置在上述薄膜晶体管的源电极以及漏电极与栅电极之间;和

第二绝缘层,其设置在上述数据布线与上述扫描布线之间,并且比上述第一绝缘层厚。

2.根据权利要求1所述的间接变换型图像检测器,其特征在于,

还具备:第三绝缘层,其设置在上述源电极以及上述漏电极与上述数据布线之间,并且比上述第一绝缘层厚。

3.根据权利要求2所述的间接变换型图像检测器,其特征在于,

上述第三绝缘层的厚度,比上述第一绝缘层厚并且比上述第一绝缘层的两倍厚度薄。

4.根据权利要求2所述的间接变换型图像检测器,其特征在于,

上述第三绝缘层的介电常数比上述第一绝缘层的介电常数低。

5.根据权利要求2所述的间接变换型图像检测器,其特征在于,

形成有上述数据布线的上述金属层,比形成有上述源电极以及上述漏电极的金属层厚。

6.根据权利要求5所述的间接变换型图像检测器,其特征在于,

形成有上述薄膜晶体管的上述源电极以及上述漏电极的金属层,是单层的金属膜,

形成有上述数据布线的金属层,是多层的金属膜。

7.根据权利要求2所述的间接变换型图像检测器,其特征在于,

还具备:矩阵状地设置的电荷收集电极,其收集在上述半导体层产生的上述电荷,

上述电荷收集电极与上述数据布线在层叠方向上不重叠。

8.根据权利要求7所述的间接变换型图像检测器,其特征在于,

上述电荷收集电极隔着上述第三绝缘层覆盖上述薄膜晶体管。

9.根据权利要求1~8中任意一项所述的间接变换型图像检测器,其特征在于,

上述数据布线、上述扫描布线和上述公共布线,在层叠方向上形成在上述半导体层的下方。

10.根据权利要求9所述的间接变换型图像检测器,其特征在于,

依次层叠了:

基板;

第一金属层,其形成上述扫描布线以及上述薄膜晶体管的上述栅电极;

单层或多层的上述第一绝缘层;

第二金属层,其形成上述薄膜晶体管的上述源电极以及上述漏电极;

单层或多层的上述第三绝缘层;

第三金属层,其形成上述数据布线;

单层或多层的绝缘膜;

第四金属层,其形成收集在上述半导体层产生的上述电荷的电荷收集电极;

上述半导体层;

上述公共电极,其向上述半导体层施加偏压电压;和

上述荧光体。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于富士胶片株式会社,未经富士胶片株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210054391.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top