[发明专利]光盘装置

说明书

技术领域

本发明涉及光盘装置，特别涉及跟踪和聚焦控制方法。

背景技术

作为本技术领域的背景技术，例如有日本特开2002-312958号公报、日本特开2009-140568号公报、日本特开2001-357542号公报、日本特开2009-170035号公报等。这些公报涉及具有多个数据层和用于使光斑在数据层上正确定位的伺服专用层的光盘，或用于使激光光斑正确地会聚在伺服层和数据层上的物镜控制方法，或使用根据伺服层和数据层的返回光(反馈光)生成的误差信号对会聚在伺服层和数据层上的光的光轴偏移进行修正，或者使用根据伺服层和数据层的反馈光生成的误差信号和偏移误差信号对光轴倾斜进行修正。

此外，作为磁盘装置中的磁头定位技术，在日本特开昭63-26814号公报中，有“在根据伺服面上记录的伺服信息进行磁头的定位，并根据数据面的规定区域中记录的伺服信息再次进行磁头的定位时，在数据面的规定区域中存在介质缺陷的情况下，……检测出该介质缺陷，中止根据数据面伺服信息进行的磁头的定位控制，返回基于伺服面伺服信息的定位动作”的记载(参照摘要)。

专利文献1：日本特开2002-312958号公报

专利文献2：日本特开2009-140568号公报

专利文献3：日本特开2001-357542号公报

专利文献4：日本特开2009-170035号公报

专利文献5：日本特开昭63-26814号公报

发明内容

如上述专利文献1～4所述，除数据层之外还设置伺服层，并分别独立地使光斑会聚在两层上，利用伺服层进行跟踪控制，由此不需要使数据层具有引导轨道，所以能够低廉地制造具有大量数据层的介质。此外，通过使用根据来自两层的反馈光运算而得的误差信号、偏移信号，能够正确地控制两个光斑的位置。

但是，为了维持数据容量，数据层的轨道间距优选与现有系统相同或者比现有的小，而数据层的跟踪控制是根据来自伺服层的反馈光间接地进行的，所以现有技术存在光斑位置的控制性能劣化的可能性。此外，在专利文献5的磁盘装置中，公开了在检测出介质缺陷时中止基于数据面伺服信息进行的磁头的定位控制，返回基于伺服面伺服信息的定位动作，但是并没有提及光斑的控制系统的切换。

本发明的目的在于，在具有数据层和伺服层的光盘的记录再现装置中，进行可靠性高的跟踪和聚焦控制。

上述目的，例如能够通过以下技术方案来实现。

即，本发明提供一种光盘装置，使用对具有数据层和伺服层的光盘进行信息的再现或记录的光拾取器，上述光盘装置的特征在于，包括：通过在光盘半径方向上移动，而使光斑a和光斑b的聚焦点位置在光盘半径方向上移动的物镜；在光盘半径方向上驱动该物镜的跟踪致动器；将上述光斑a的来自数据层的反射光转换为电信号的检测器a；将上述光斑b的来自伺服层的反射光转换为电信号的检测器b；基于来自上述检测器a的输出生成跟踪误差信号a的跟踪误差信号生成单元a；基于来自上述检测器b的输出生成跟踪误差信号b的跟踪误差信号生成单元b；基于上述跟踪误差信号生成单元a或上述跟踪误差信号生成单元b的输出，生成用于使上述光斑a或上述光斑b定位在规定轨道上的控制信号的跟踪控制单元；基于上述跟踪控制单元的输出，驱动上述跟踪致动器的跟踪致动器驱动单元；和基于上述跟踪误差信号生成单元a或上述跟踪误差信号生成单元b的输出，检测跟踪误差电平的跟踪误差电平检测单元，其中，上述跟踪控制单元，在通常数据再现时基于上述检测器a的输出驱动上述跟踪致动器，并以下述方式动作：在基于上述跟踪误差电平检测单元的输出检测出上述跟踪误差信号生成单元a的输出超过规定范围时，基于上述检测器b的输出驱动上述跟踪致动器，并且，在基于上述跟踪误差电平检测单元的输出检测出上述跟踪误差信号生成单元b的输出成为规定范围内时，再次基于上述检测器a的输出驱动上述跟踪致动器。

此外，本发明提供一种光盘装置，使用对具有数据层和伺服层的光盘进行信息的再现或记录的光拾取器，上述光盘装置的特征在于，包括：基于会聚在数据层上的光斑a的反射光进行跟踪控制的控制单元a；和基于会聚在伺服层上的光斑b的反射光进行跟踪控制的控制单元b，在数据再现中，切换控制单元a和控制单元b进行跟踪控制。