[发明专利]一种太阳能选择性吸收膜系及其制备方法有效
申请号: | 201210047108.7 | 申请日: | 2012-02-28 |
公开(公告)号: | CN102582150A | 公开(公告)日: | 2012-07-18 |
发明(设计)人: | 范真;杨娟;丁建宁;郭立强;程广贵;凌智勇;张福庆 | 申请(专利权)人: | 江苏大学 |
主分类号: | B32B9/04 | 分类号: | B32B9/04;B32B15/00;C23C14/35;C23C14/06;C23C14/16;F24J2/48 |
代理公司: | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人: | 楼高潮 |
地址: | 212013 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 太阳能 选择性 吸收 及其 制备 方法 | ||
1.一种太阳能选择性吸收膜系,以铝板作为膜系的基体,其特征在于:所述吸收膜系从顶层至底层依次为:作为减反射层的双层AlN膜,第一层膜厚30~40nm,第二层膜厚40~50nm;作为吸收层的单层Si膜,膜厚70~100nm;作为红外反射层的单层铝膜,膜厚50~60nm;和基体铝板;所述基体铝板上均匀布有圆形凹坑,所述圆形凹坑的直径小于红外光波长。
2.如权利要求1所述的一种太阳能选择性吸收膜系,其特征在于:所述圆形凹坑
的直径为2.0 ,所述每cm2的基体铝板上均匀布有105个圆形凹坑。
3.如权利要求1所述的一种太阳能选择性吸收膜系的制备方法,包括在洁净Al基体上制备微坑结构的步骤;在具有微坑结构的基体上制备单层Al膜的步骤;单层Si吸收层制备的步骤;双层AlN膜减反射层制备的步骤,其特征在于:所述的在具有微坑结构的基体上制备单层Al膜的步骤为:利用磁控溅射技术制备铝膜时,所用靶材为Al靶,溅射生长前腔室压强预抽至1.6×10-4 Pa,腔室在200℃条件下预热处理60 min,以减小腔室中氧原子对Al膜的氧化作用;反应中所用腔室温度为200℃;所用保护气体为Ar气,流量为80 sccm;溅射直至获得所需厚度的Al膜;所述单层Si吸收层制备的步骤为:利用磁控溅射技术制备Si膜时,所用靶材为硅靶,溅射生长前腔室压强预抽至1.6×10-4 Pa,腔室在250℃条件下预热处理60 min,以减小腔室中氧原子对Si膜的氧化作用;反应中所用腔室温度为250℃;所用保护气体为Ar气,流量为80 sccm;溅射直至获得所需厚度的Si膜;双层AlN膜减反射层制备的步骤为:利用磁控溅射技术制备双层AlN膜减反射层时,所用靶材为Al靶;第一层AlN膜溅射生长前腔室压强预抽至1.6×10-4 Pa,腔室在200℃条件下预热处理60 min,以减小腔室中氧原子对Si膜的氧化作用;反应时所用腔室温度为200℃;所用反应气体为高纯N2气,流量为40 sccm;所用保护气体为Ar气,流量为40 sccm;溅射直至获得所需厚度的AlN膜;第二层AlN膜溅射生长前腔室压强预抽至1.6×10-4 Pa,腔室在250℃条件下预热处理60 min,以减小腔室中氧原子对Si膜的氧化作用;反应时所用腔室温度为250℃;所用反应气体为高纯N2气,流量为60 sccm;所用保护气体为Ar气,流量为20 sccm;溅射直至获得所需厚度的AlN膜。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于江苏大学,未经江苏大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210047108.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。