[发明专利]一种光学自由曲面补偿加工方法有效

专利信息
申请号: 201210046864.8 申请日: 2012-02-28
公开(公告)号: CN102554705A 公开(公告)日: 2012-07-11
发明(设计)人: 房丰洲;张效栋;王祺昌 申请(专利权)人: 天津微纳制造技术有限公司
主分类号: B23Q17/20 分类号: B23Q17/20
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人: 程毓英
地址: 300457 天津市塘沽区*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 一种 光学 自由 曲面 补偿 加工 方法
【权利要求书】:

1.一种光学自由曲面补偿加工方法,该方法在预先设计好加工路径和测量路径后,采用如下的补偿加工方法:

(1)根据设计好的加工路径进行光学自由曲面加工,并借助原位测量方法对加工好的光学自由曲面进行原位测量,得到和测量路径排列方式一样的测量点;

(2)采用下列步骤将测量数据转换为规则阵列数据:

1)在XY平面上设计规则点阵列T,其范围稍大于测量数据的范围,其中包含M×M个点,阵列上任意点标记为A(i,j),和其对应的测量数据的Z坐标标记为Δz(i,j),作为该点的第三维坐标;T被分解为N×N个长方形单位区域t,每个t等大小,那么单位区域t中包含了M/N个阵列点,单位区域t中点距d设为单位距离,一般设置为测量路径相邻路线距离的大小。阵列上任意点标记为A(i,j),和其对应的测量数据的Z坐标标记为Δz(i,j),作为该点的第三维坐标;

2)设置参数:单元圆内最小点数n0=4;

3)遍历测量点,根据其X和Y坐标值的大小,分别归属于不同的单位区域t内,并标注每个测量点对应的区域编号;

4)根据区域编号定位A(i,j)在哪个单位区域t内,并以A(i,j)所属的小块t的某一个角点作为中心找到相邻的四个单位区域,确定四个单位区域所包含的9个角点,并计算含盖这9个点的矩形区域的最小外接圆半径,设为R,该最小外接圆被称为单位圆;

5)精搜索在单元圆中的测量点数据,假设测量点的个数为n;

6)判断满足条件的测量点数n是否小于设定好的n0,如果满足小于n0,则单元圆的半径R就要增大(如增大1.2倍),然后按照4)再做局部搜索,直到满足n>n0

7)A(i,j)点的第三维坐标Δz(i,j)可通过加权平均的方法进行求取,其中L(t)

(t=1,2...,n)为单元圆中包含的测量点到距离A(i,j)的距离;

8)按照规则点阵列排列顺序,重复步骤3)-7),求取阵列上每个点对应的第三维坐标Δz(i,j)。

(3)对规则点阵列T的测量数据进行滤波处理,得到面型误差数据;

(4)统计整个面型误差数据得到面型误差数据的PV值;

(5)判断PV值是否在面型设计的要求范围内,若在要求范围内,则达到面型精度控制的要求,结束制造流程,否则,将滤波得到的规则排列的真实面型误差数据,并以此数据进行补偿加工路径的设计,将补偿路径作为新的加工路径,返回到第(1)步。

2.根据权利要求1所述的光学自由曲面补偿加工方法,其特征在于,第(3)步中,采用三维高斯稳健滤波算法对规则点阵列T的测量数据进行滤波处理。

3.根据权利要求1所述的光学自由曲面补偿加工方法,其特征在于,第(5)步中,采用如下的步骤进行补偿加工路径的设计:

1)将滤波得到的规则排列的真实面型误差数据的每个数据点在XY平面上连接相邻点得到各个矩形区域,每一个矩形区域记为单位矩形p,其角点为规则点阵列T中的测量点;

2)在XY平面上建立和加工路径分布相同的数据阵列B,其中的数据坐标点和加工路径在XY平面上的坐标点一致,并记数据阵列上任意点为B(i,j);

3)搜索B上所有的点,并确定每个点B(i,j)属于哪个单位区域t;

4)针对任意点B(i,j),定位包含该点的单位区域t,由该单位区域的四个角点按照加权平均的方法求解点B(i,j)对应的补偿数据量,将该数据取反后作为点B(i,j)的第三维坐标,即Z坐标,记为ΔBz;

5)遍历B上所有的点,并循环进行第4)步,就可将真实面型误差数据转为和加工路径排列方式一样的数据;

6)将加工路径数据和数据B的对应点Z坐标进行求和,得到补偿加工路径。

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