[发明专利]具有室温磁电阻效应的Ti0.57Cr0.43N/p-Si异质结构及制备方法无效
| 申请号: | 201210046035.X | 申请日: | 2012-02-27 |
| 公开(公告)号: | CN102586733A | 公开(公告)日: | 2012-07-18 |
| 发明(设计)人: | 米文博;段秀峰;白海力 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
| 主分类号: | C23C14/06 | 分类号: | C23C14/06;C23C14/34 |
| 代理公司: | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人: | 王丽 |
| 地址: | 300072 天*** | 国省代码: | 天津;12 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 具有 室温 磁电 效应 ti sub 0.57 cr 0.43 si 结构 制备 方法 | ||
1.一种具有室温磁电阻效应的Ti0.57Cr0.43N/p-Si异质结构,其特征是Ti0.57Cr0.43N层为多晶结构,并且为柱状生长;与单晶Si之间的界面没有发生扩散现象,形成异质结构;在电流迁都为0.04mA时和200奥斯特磁场下,磁电阻达200%。
2.权利要求的具有室温磁电阻效应的Ti0.57Cr0.43N/p-Si制备方法,其特征是方法如下:
1)采用中科院沈阳科学仪器研制中心生产的DPS-III型超高真空对向靶磁控溅射镀膜机,基底材料为抛光的p型Si(100)单晶片,在对向摆放的靶头上安装一对纯度为99.99%的Ti靶,一头作为磁力线的N极,另一头为S极;Ti靶材厚度为4mm,直径为60mm;为了掺入Cr,在Ti靶的表面均匀放置Cr片,Cr片的面积为6mm2,Cr片的数量为160片;两个靶之间的距离为80mm,靶的轴线与放有MgO基底材料的样品架之间的距离为80mm;
2)将p型Si(100)单晶片材料采用金刚石刀划开,面积为0.5cm×0.8cm;
3)通过超声波的方式将表面杂质清除后,将划好的p型Si(100)单晶片安装在对向靶连线的中垂线处的基片架上;
4)开启DPS-III超高真空对向靶磁控溅射镀膜机,先后启动一级机械泵和二级分子泵抽真空,直至溅射室的背底真空度优于1×10-5Pa;
5)向真空室通入纯度为99.999%的Ar和N2的混合气体,将真空度保持在1Pa,其中Ar气的流量为60sccm,N2气的流量为60sccm;
6)将基片架上的p型Si(100)单晶片温度以10℃/秒的速度升至550℃;
7)开启溅射电源,在一对Ti靶上施加0.2A的电流和1050V的直流电压,预溅射15分钟,等溅射电流和电压稳定;
8)打开基片架上的档板开始溅射,p型Si(100)单晶片位置固定;
9)薄膜沉积时间为15分钟;
10)溅射结束后,关闭基片架上的档板,然后关闭溅射电源,停止通入溅射气体Ar和N2,完全打开闸板阀,继续抽真空,并且将p型Si(100)单晶片温度以5℃/min的降温速率降至室温,然后关闭真空系统;向真空室充入纯度为99.999%的氮气,打开真空室,取出多晶Ti0.57Cr0.43N/p-Si异质结构。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于天津大学,未经天津大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210046035.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种防喷器现场试压工具
- 下一篇:用于试漏测试仪的管阀结构
- 同类专利
- 专利分类





