[发明专利]具有室温磁电阻效应的Ti0.57Cr0.43N/p-Si异质结构及制备方法无效

专利信息
申请号: 201210046035.X 申请日: 2012-02-27
公开(公告)号: CN102586733A 公开(公告)日: 2012-07-18
发明(设计)人: 米文博;段秀峰;白海力 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: C23C14/06 分类号: C23C14/06;C23C14/34
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人: 王丽
地址: 300072 天*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 具有 室温 磁电 效应 ti sub 0.57 cr 0.43 si 结构 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种具有室温磁电阻效应的Ti0.57Cr0.43N/p-Si异质结构,其特征是Ti0.57Cr0.43N层为多晶结构,并且为柱状生长;与单晶Si之间的界面没有发生扩散现象,形成异质结构;在电流迁都为0.04mA时和200奥斯特磁场下,磁电阻达200%。

2.权利要求的具有室温磁电阻效应的Ti0.57Cr0.43N/p-Si制备方法,其特征是方法如下:

1)采用中科院沈阳科学仪器研制中心生产的DPS-III型超高真空对向靶磁控溅射镀膜机,基底材料为抛光的p型Si(100)单晶片,在对向摆放的靶头上安装一对纯度为99.99%的Ti靶,一头作为磁力线的N极,另一头为S极;Ti靶材厚度为4mm,直径为60mm;为了掺入Cr,在Ti靶的表面均匀放置Cr片,Cr片的面积为6mm2,Cr片的数量为160片;两个靶之间的距离为80mm,靶的轴线与放有MgO基底材料的样品架之间的距离为80mm;

2)将p型Si(100)单晶片材料采用金刚石刀划开,面积为0.5cm×0.8cm;

3)通过超声波的方式将表面杂质清除后,将划好的p型Si(100)单晶片安装在对向靶连线的中垂线处的基片架上;

4)开启DPS-III超高真空对向靶磁控溅射镀膜机,先后启动一级机械泵和二级分子泵抽真空,直至溅射室的背底真空度优于1×10-5Pa;

5)向真空室通入纯度为99.999%的Ar和N2的混合气体,将真空度保持在1Pa,其中Ar气的流量为60sccm,N2气的流量为60sccm;

6)将基片架上的p型Si(100)单晶片温度以10℃/秒的速度升至550℃;

7)开启溅射电源,在一对Ti靶上施加0.2A的电流和1050V的直流电压,预溅射15分钟,等溅射电流和电压稳定;

8)打开基片架上的档板开始溅射,p型Si(100)单晶片位置固定;

9)薄膜沉积时间为15分钟;

10)溅射结束后,关闭基片架上的档板,然后关闭溅射电源,停止通入溅射气体Ar和N2,完全打开闸板阀,继续抽真空,并且将p型Si(100)单晶片温度以5℃/min的降温速率降至室温,然后关闭真空系统;向真空室充入纯度为99.999%的氮气,打开真空室,取出多晶Ti0.57Cr0.43N/p-Si异质结构。

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