[发明专利]放射图像检测设备及其制造方法

权利要求书

1.一种制造放射图像检测设备的方法，所述放射图像检测设备具有：闪烁器，当其被曝光于放射线时发出荧光；以及光电检测单元，其布置于闪烁器的辐射进入侧，所述方法包括：

光电检测单元产生过程，用于在基板上层叠显示出比基板显示出的辐射吸收率更低的辐射吸收率的保护部件，以及在保护部件上形成将荧光检测为电信号的薄膜部，从而产生所述光电检测单元；

基板剥离-去除过程，用于从保护部件剥离和除去基板；以及

整合过程，用于在基板剥离-去除过程之前或之后将先前产生的闪烁器和光电检测单元整合在一起。

2.一种制造放射图像检测设备的方法，所述放射图像检测设备具有：闪烁器，当其被曝光于放射线时发出荧光；以及光电检测单元，其布置于闪烁器的辐射进入侧，所述方法包括：

光电检测单元产生过程，用于在基板上层叠显示出比基板显示出的辐射吸收率更低的辐射吸收率的保护部件，以及在保护部件上形成将荧光检测为电信号的薄膜部，从而产生所述光电检测单元；

闪烁器产生过程，用于在所述光电检测单元的薄膜部上形成闪烁器，并且在闪烁器的相对于其面对薄膜部的一侧的另一侧上放置支持部件；以及

基板剥离-去除过程，用于从在闪烁器产生过程中与闪烁器整合的保护部件剥离和除去基板。

3.根据权利要求1或2所述的制造放射图像检测设备的方法，其中：以对于在60kV的管电压下发出的X辐射的铝当量在1.8mm以下的方式设置所述保护部件。

4.根据权利要求1或2所述的制造放射图像检测设备的方法，其中：

在所述光电检测单元产生过程中，通过剥离层在基板上层叠所述保护部件。

5.一种放射图像检测设备，其包括：

闪烁器，当其被曝光于放射线时发出荧光；以及

光电检测单元，其布置于闪烁器的辐射进入侧上，其中：

所述光电检测单元包括：由显示出比玻璃材料显示出的辐射吸收率更低的辐射吸收率的低辐射吸收材料形成的保护部件，以及在保护部件的面对闪烁器的一侧上形成的且将荧光检测为电信号的薄膜部。

6.根据权利要求5所述的放射图像检测设备，其中，

对于在60kV的管电压下发出的X辐射的保护部件的铝当量在1.8mm以下。

7.根据权利要求6所述的放射图像检测设备，其中：

对于在60kV的管电压下发出的X辐射的保护部件的铝当量为0.1mm至1.0mm。

8.根据权利要求5至7中任一项所述的放射图像检测设备，其中：

所述低辐射吸收材料是金属(包括金属互化物或合金)和/或树脂。

9.根据权利要求8所述的放射图像检测设备，其中：

所述保护部件包括树脂层以及在树脂层的辐射进入侧上设置的由金属制成的光反射层。

10.根据权利要求8所述的放射图像检测设备，其中：

所述金属是单种金属Al、Mg、Cr、Zr、Ti和Mn、其氧化物以及包括各个单种金属的合金中的至少一种。

11.根据权利要求8所述的放射图像检测设备，其中：

所述树脂是聚酰亚胺、聚萘二甲酸乙二醇酯、聚苯乙烯和芳族聚酰胺中的至少一种。

12.根据权利要求5至7中任一项所述的放射图像检测设备，其中：

所述保护部件是在所述薄膜部的相对于其面对闪烁器的一侧的另一侧上布置的且向所述薄膜部反射荧光的光反射部件。

13.根据权利要求5至7中任一项所述的放射图像检测设备，其中：

由非晶氧化物或有机材料形成所述薄膜部的至少一部分。

14.根据权利要求5至7中任一项所述的放射图像检测设备，其中：

所述保护部件的厚度为0.01mm至1mm。

15.根据权利要求5至7中任一项所述的放射图像检测设备，其中：

所述闪烁器包括从由荧光晶体的柱状生长得到的柱状晶体组形成的柱状部。

16.根据权利要求15所述的放射图像检测设备，其中：

在所述闪烁器的柱状晶体的一端设置包括非柱状晶体的非柱状部。