[发明专利]一种偏光片的外观缺陷检测系统及检测方法

权利要求书

1.一种偏光片的外观缺陷检测系统，其特征在于，包括：

用于发光的光源；

用于透过光源发出的光线，放大偏光片的外观缺陷特征的缺陷放大装置；

所述缺陷放大装置位于光源和偏光片之间。

2.根据权利要求1所述的偏光片的外观缺陷检测系统，其特征在于，还包括：

用于采集放大外观缺陷特征后的偏光片图像的图像采集装置；

用于对图像采集装置采集的偏光片图像进行处理，并判断偏光片是否存在缺陷的图像处理装置；

所述图像采集装置位于偏光片的一侧，并与所述图像处理装置连接。

3.根据权利要求1所述的偏光片的外观缺陷检测系统，其特征在于，所述缺陷放大装置为狭缝板，在所述狭缝板上设置至少一条用于显示明暗过渡条纹的狭缝。

4.根据权利要求3所述的偏光片的外观缺陷检测系统，其特征在于，所述狭缝为多条，在偏光片表面形成多条明暗过渡条纹，所述狭缝的间距与狭缝的宽度之比为：1：1～3：1。

5.根据权利要求3所述的偏光片的外观缺陷检测系统，其特征在于，所述缺陷放大装置产生的明暗条纹覆盖所述偏光片。

6.根据权利要求2所述的偏光片的外观缺陷检测系统，其特征在于，还包括：

用于调节图像采集装置与偏光片之间的距离的第一调节装置；

用于调节缺陷放大装置与偏光片之间的距离，及控制调节缺陷放大装置沿其长度方向移动的第二调节装置；

用于调节光源与缺陷放大装置之间的距离的第三调节装置。

7.根据权利要求2所述的偏光片的外观缺陷检测系统，其特征在于，还包括用于根据图像处理装置的处理结果分拣偏光板的分拣装置，所述分拣装置与图像处理装置连接。

8.一种采用权利要求1所述偏光片的外观缺陷检测系统的检测方法，其特征在于，所述的检测方法包括：

光源发射的光线照射在缺陷放大装置上；

由缺陷放大装置透过光源发出的光线，放大偏光片的外观缺陷特征。

9.根据权利要求8所述的检测方法，其特征在于，所述的检测方法还包括：

由图像采集装置采集放大外观缺陷特征后的偏光片图像，并将图像发送给图像处理装置；

由图像处理装置对图像采集装置采集的偏光片图像进行处理，并判断偏光片是否存在缺陷。

10.根据权利要求8所述的检测方法，其特征在于，所述的检测方法还包括：

控制缺陷放大装置沿其长度方向定点移动预设距离。