[发明专利]在基底表面上沉积纳米点阵的方法有效
申请号: | 201210042886.7 | 申请日: | 2012-02-23 |
公开(公告)号: | CN102560384A | 公开(公告)日: | 2012-07-11 |
发明(设计)人: | 马平;孙平;陈松林;蒲云体;朱基亮 | 申请(专利权)人: | 成都精密光学工程研究中心;四川大学 |
主分类号: | C23C14/34 | 分类号: | C23C14/34;B82Y30/00;B82Y40/00 |
代理公司: | 成都科海专利事务有限责任公司 51202 | 代理人: | 刘双兰 |
地址: | 610041 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基底 表面上 沉积 纳米 点阵 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种采用溅射仪在基底表面上沉积纳米点阵的方法,属于纳米材料的制备领域。
背景技术
纳米材料由于具有独特物理、化学性能,被人们广泛关注。但目前在基底表面制备纳米点阵的方法有:电化学法、分子束外延法、真空蒸镀法,水热法等。这些方法都需要事先在基底的表面上做一层具有纳米空隙的掩膜板,现在采用的掩膜板是氧化铝模板或有机物模板,这些掩膜板的制备过程复杂,制备工艺要求高,所制备的掩膜板的质量对沉积的纳米点阵有很大的影响,并且在沉积完成后还要将掩膜板去除掉,对去除掩膜板工艺的控制也会严重影响纳米点阵的质量。另外,用电化学法制备纳米点阵其基底必须是导体,或者在绝缘的基底上要事先镀一层导电的膜,这就在很大程度上限制了电化学法的应用前景。
发明内容
本发明的目的就是提供一种无需事先制作掩膜板、其制备工艺简单、且制备快捷、可控性高的在基底表面上沉积高质量纳米点阵的方法;该方法是利用溅射仪,根据薄膜的岛状生长模式,使其达到在基底表面形成纳米点阵,但又不会形成连续的薄膜的条件来调节溅射气压、溅射电流、溅射功率和溅射时间,从而达到沉积纳米点阵目的。
本发明的基本原理是:利用溅射仪根据薄膜的岛状生长模式:成核→晶核长大并逐渐形成较大的岛→岛与岛之间聚接形成含有空沟道的网络→沟道被填充。在薄膜形成初期,一些到达衬底的原子或分子开始沉积下来凝聚成微粒,由于热涨落的作用,这些颗粒就可以在衬底表面上运动而合并在一起,形成核。如果核的半径大小小于临界核的半径,就可能会消失;当核的半径大于或等于临界核的半径时,就可以持续存在并长大。当衬底表面的颗粒达到一定数量后,就会呈现饱和状态,继续形成的核就会相互合并,最终形成有沟道的网状。本发明沉积纳米点阵的方法,就是利用薄膜在衬底表面形成岛,但又还未连续成网状的过程,从而达到在基底表面上沉积纳米点阵的目的。
为实现本发明的目的,本发明是采用以下措施构成的技术方案来实现的:
本发明在基底表面上沉积纳米点阵的方法,其特征在于包括以下工艺步骤:
(1)基片的清洗
按甲苯、丙酮、酒精、去离子的水顺序,分别将基片超声振荡清洗干净,再将清洗干净的基片放入溅射仪中;
(2)安装溅射靶材
将需要溅射的靶材安装于溅射仪中,安装好后开始抽真空,当真空度达到2~10-5Pa时,通入气氛;
(3)调节好溅射参数,沉积纳米点阵;
采用溅射仪,将溅射气压调节为0.1~6Pa,溅射功率调节为10-20W,溅射电流调节为3~6mA;将溅射时间控制在2-5秒;然后进行溅射,实现在基片表面上沉积纳米颗粒,即纳米点阵。
上述技术方案中,所述的基片是导电的材料、或是绝缘的材料。
上述技术方案中,所述的溅射靶材是金属,或者是金属氧化物。
上述技术方案中,所述溅射靶材是金属时,选自金属中的Au、或Ag、或Cu、或Al其中之一。
上述技术方案中,所述溅射靶材是金属氧化物时,选自金属氧化物中的Al2O3、或ZnO、或TiO2、或CuO其中之一。
上述技术方案中,所述溅射仪采用直流溅射仪、或射频溅射仪、或磁控溅射仪、或离子束溅射仪进行溅射,以实现纳米点阵的沉积。
上述技术方案中,所述通入气氛为氩气。
本发明与现有技术相比具有以下特点及有益技术效果:
1、本发明沉积纳米点阵的方法,无需事先制备掩膜板、其制备工艺简单、沉积快捷、且可控性高。
2、本发明沉积纳米点阵的方法,对所用基底没有特殊要求,导体和绝缘体材料均可在基底表面进行沉积,且沉积的纳米点阵质量高。
3、本发明沉积纳米点阵的方法,其点阵的原料是固体靶材,因此可以沉积导体和绝缘体的点阵,具有较大的应用价值,其应用领域较广;适用于纳米电子和纳米光电子领域。
附图说明
图1是按本发明沉积纳米点阵的方法,利用离子束溅射沉积在玻璃基片表面上的金纳米点阵的AFM图;
图2是按本发明沉积纳米点阵的方法,利用射频溅射沉积在玻璃基片表面上的金纳米点阵的AFM图。
具体实施方式
下面通过具体实施例对本发明作进一步的详细说明,但并不意味着是对本发明保护内容的任何限定。
实施例一
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