[发明专利]光电效应法测普朗克常数实验辅助测量装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种物理实验辅助测量装置，尤其是一种光电效应法测普朗克常数实验辅助测量装置。

背景技术

光电效应实验是大学基本物理实验之一。进行该实验时，一般由汞灯提供光源，经过滤光片获得单色光，并由相隔一定距离的光电管接收。实验时，周围环境的杂光信号也同时被光电管接收，从而影响测量结果的准确性。

发明内容

本发明的目的，在于提供一种能有效去除杂光影响的光电效应法测普朗克常数实验辅助测量装置。

为了解决上述技术问题，本发明所述的光电效应法测普朗克常数实验辅助测量装置由筒身和一对可伸缩套管组成。可伸缩套管分别位于筒身的两端。筒身和可伸缩套管均为空心圆柱形。

所述筒身和可伸缩套管均由表面涂黑的金属材料制成。

本发明由于采用上述设计，其结构简单，操作方便，有利于提高光电效应实验测量的准确性。

附图说明

下面结合附图对本发明作进一步说明。

图1是本发明所述的光电效应法测普朗克常数实验辅助测量装置的构造图。

图2是本发明所述的光电效应法测普朗克常数实验辅助测量装置的立体示意图。

图3是利用本发明所述的光电效应法测普朗克常数实验辅助测量装置进行光电效应实验的实验装置图。

图中1.筒身，2.可伸缩套管，3.可伸缩套管，4.支架套管，5.紧固螺钉，6.汞灯，7.光电管暗箱，8.支架。

具体实施方式

如图1、图2所示，本发明所述的光电效应法测普朗克常数实验辅助测量装置由筒身1和位于筒身1两端的可伸缩套管2、3组成。筒身1和可伸缩套管2、3均为空心圆柱形，可伸缩套管2、3可分别从筒身1内拉出或推入筒身1。可伸缩套管2、3的直径比汞灯6的出光口和光电管暗箱7的进光口略大。筒身1和可伸缩套管2、3均由表面涂黑的金属材料制成，以便实验过程中耐高温和减少反射光。

如图3所示，实验时将支架8插入支架套管4内，将筒身1置于汞灯6和光电管暗箱7之间，调节筒身1的高度，使之与汞灯6的出光口和光电管暗箱7的进光口等高，然后用紧固螺钉5将支架套管4与支架8固定。将可伸缩式套管3从筒身1内拉出套在汞灯6的出光口上，将可伸缩式套管2从筒身1内拉出套在光电管暗箱7的进光口上。

当需要在汞灯6的出光口上加遮光盖时，将可伸缩式套管3推入筒身1，加遮光盖后再将可伸缩式套管3从筒身1拉出套在汞灯6的出光口上。

当需要在光电管暗箱7的进光口上加光阑或滤光片时，将可伸缩式套管2推入筒身1，加光阑或滤光片后再将可伸缩式套管2从筒身1拉出套在光电管暗箱7的进光口上。