[发明专利]有关未被抽样的工件的数据表示有效
申请号: | 201210042194.2 | 申请日: | 2006-08-23 |
公开(公告)号: | CN102854848B | 公开(公告)日: | 2015-02-11 |
发明(设计)人: | S·P·里夫斯;M·G·麦金太尔 | 申请(专利权)人: | 格罗方德半导体公司 |
主分类号: | G05B19/418 | 分类号: | G05B19/418 |
代理公司: | 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 | 代理人: | 程伟;王锦阳 |
地址: | 英属开*** | 国省代码: | 开曼群岛;KY |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 有关 抽样 工件 数据 表示 | ||
1.一种用于提供与未被抽样的工件相关联数据表现的方法,包含 下列步骤:
接收与第一工件有关的所测量的量测数据;以及
根据与该第一工件有关的该量测数据,而求与第二工件对应的量 测数据的近似值,以便提供与该第二工件有关的预计量测数据,并且 决定与准确性有关的信心水准。
2.如权利要求1所述的用于提供与未被抽样的工件相关联数据表 现的方法,进一步包含下列步骤:处理后续的工件。
3.如权利要求1所述的用于提供与未被抽样的工件相关联数据表 现的方法,其中接收与该第一工件有关的量测数据的步骤包含下列步 骤:接收与对该第一工件执行的制程有关的量测数据。
4.如权利要求1所述的用于提供与未被抽样的工件相关联数据表 现的方法,其中求与第二工件对应的量测数据的近似值的步骤包含下 列步骤:将有关对该第一及第二工件执行的制程以及与该制程有关的 线上数据值的关系模型化。
5.如权利要求4所述的用于提供与未被抽样的工件相关联数据表 现的方法,还包含下列步骤:执行统计分析以决定与该预计量测数据 有关的信心水准。
6.如权利要求1所述的用于提供与未被抽样的工件相关联数据表 现的方法,进一步包含下列步骤:根据实际量测数据及该预计量测数 据而执行与该第一及该第二工件有关的制程后分析。
7.如权利要求4所述的用于提供与未被抽样的工件相关联数据表 现的方法,其中求与该第二工件对应的量测数据的近似值的步骤包含 下列步骤:使用工具状态数据、线上测量数据、历史量测数据和工具 变异数据中的至少一个,以便将对该第二工件的处理及与对该第二工 件的处理有关的预计线上数据间的关系模型化。
8.如权利要求1所述的用于提供与未被抽样的工件相关联数据表 现的方法,进一步包含下列步骤:指定与该第二工件相关联的标记, 其指示该预计量测数据与该第二工件相关联。
9.一种用于提供与未被抽样的工件相关联数据表现的系统,其特 征在于,所述系统包含:
数个工件;
量测工具(440),用以自该数个工件中的被抽样的工件取得量测数 据;
控制器(310),用以根据与该被抽样的工件有关的该量测数据, 而求与该数个工件的至少一个未被抽样的工件有关的对应量测数据的 近似值,以便提供预计量测数据,该控制器决定与准确性有关的信心 水准。
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