[发明专利]电子元件测试治具及使用此测试治具的电子元件测试方法

权利要求书

1.一种电子元件测试治具，供测试一电子元件时使用，其中该电子元件的一第一侧面具有第一光反射部，该电子元件测试治具包含：

承载装置，具有内凹部，该内凹部的底部形成一承载面；以及

第一光学定位装置，设置于该承载装置的一第一侧，该第一光学定位装置具有第一光线收发部，该第一光线收发部可发射光线进入该内凹部以及接收来自内凹部的光线；

其中当该电子元件位于一测试位置时，该第一光反射部正对该第一光线收发部。

2.如权利要求1所述的电子元件测试治具，其中当该电子元件位于该测试位置时，该第一光线收发部与该第一光反射部的距离介于0到8mm。

3.如权利要求1所述的电子元件测试治具，其中该电子元件具有一底面，当该电子元件位于该测试位置时，该电子元件位于该承载面上，且该底面朝下，该第一侧面面朝该第一方向；该电子元件具有第二侧面设置于该电子元件与该第一侧面相反的一侧，该第二侧面具有第一光吸收部，当该电子元件位于该承载面上且该第一侧面面朝一与该第一方向相反的第二方向时，该第一光线收发部正对该第一光吸收部。

4.如权利要求3所述的电子元件测试治具，其中该第一光吸收部为凹洞或具有光吸收材料涂层之面。

5.如权利要求1所述的电子元件测试治具，其中该电子元件的该第一侧面具有第二光反射部，该电子元件测试治具进一步具有第二光学定位装置设置于该承载装置的该第一侧，该第二光学定位装置具有第二光线收发部，该第二光线收发部可发射光线进入该内凹部以及接收来自内凹部的光线，当该电子元件位于该测试位置时，该第二光线收发部正对该第二光反射部。

6.如权利要求5所述的电子元件测试治具，其中该第一光反射部及该第二光反射部分别设置于该第一侧面远离的两端。

7.如权利要求5所述的电子元件测试治具，其中当该电子元件位于该测试位置时，该第二光线收发部与该第二光反射部的距离介于0到8mm。

8.如权利要求5所述的电子元件测试治具，其中该电子元件具有一底面，当该电子元件位于该测试位置时，该电子元件位于该承载面上，且该底面朝下，该第一侧面面朝该第一方向；其中该电子元件具有第二侧面设置于该电子元件与该第一侧面相反的一侧，该第二侧面具有第一光吸收部以及第二光吸收部，当该电子元件位于该承载面上且该第一侧面面朝一与该第一方向相反的第二方向时，该第一光线收发部以及该第二光线收发部分别正对该第一光吸收部以及该第二光吸收部。

9.如权利要求8所述的电子元件测试治具，其中该第一光吸收部以及该第二光吸收部为凹洞或具有光吸收材料涂层之面。

10.如权利要求1所述的电子元件测试治具，其中该第一光学定位装置为具有光纤的光线收发装置，该第一光线收发部设置于该光纤的自由端。

11.如权利要求10所述的电子元件测试治具，其中该第一光学定位装置穿设于承载装置的该第一侧，且第一光线收发部与该内凹部的侧壁切齐。

12.一种电子元件测试方法，包含下列步骤：

提供如权利要求1、2、3、4、10或11任一项所述的电子元件测试治具；

将该电子元件放置于该承载面上；以及

对该电子元件进行定位测试。

13.如权利要求12所述的电子元件测试方法，进一步包含当该电子元件位于该测试位置时，对该电子元件进行功能测试。

14.一种电子元件测试方法，包含下列步骤：

提供如权利要求5、6、7、8、9、10或11任一项所述的电子元件测试治具；

将该电子元件放置于该承载面上；以及

对该电子元件进行定位测试。

15.如权利要求14所述的电子元件测试方法，进一步包含在将该电子元件放置于该承载面上以及对该电子元件进行定位测试前，对该电子元件进行极性测试。

16.如权利要求14所述的电子元件测试方法，进一步包含当该电子元件位于该测试位置时，对该电子元件进行功能测试。