[发明专利]高压下透明流体折射率测量装置

权利要求书

1.一种高压下透明流体折射率测量装置，其特征是：所述测量装置中的光源（2）输出光束经过凹面镜（3）变成平行光，平行光束依次经过反射镜（1）和取样镜（4）后垂直入射到窗口Ⅰ（8），再经过放置在密封机构（10）的被测流体（9）和窗口Ⅱ（11）后垂直入射到光谱仪（12）入口；窗口Ⅰ（8）与窗口Ⅱ（11）的表面平行设置，由取样镜（4）反射的平行光束通过功率监视仪（5）对输出的平行光束功率进行监视测量，盛装被测流体（9）的密封机构（10）通过热电耦（6）测量温度，通过恒温箱（7）保持实验中被测流体（9）温度恒定，开关Ⅰ（15）用于控制气体（14）的注入，以增加密封机构（10）内流体压强，开关Ⅱ（18）用于控制真空泵（19）工作，以减少密封机构（10）内被测流体（9）压强，被测流体（9）的压强通过压力测量仪（17）测量。

2.根据权利要求1所述的高压下透明流体折射率测量装置，其特征是：所述的光源（2）为宽带光源。

3.根据权利要求2所述的高压下透明流体折射率测量装置，其特征是：所述的宽带光源为输出功率连续可调、稳定度小于0.01%的溴钨灯。

4.根据权利要求1所述的高压下透明流体折射率测量装置，其特征是：所述的密封机构（10）中的被测流体（9）的厚度为1~2mm。

5.根据权利要求1所述的高压下透明流体折射率测量装置，其特征是：所述的窗口Ⅰ（8）与窗口Ⅱ（11）的表面平行度小于1°，窗口Ⅰ（8）的前后两个表面和窗口Ⅱ（11）的前后表面面型小于λ/4，λ=632.8nm。

6.根据权利要求1所述的高压下透明流体折射率测量装置，其特征是：所述的光谱仪（12）强度稳定性小于0.01%。

7.根据权利要求1所述的高压下透明流体折射率测量装置，其特征是：所述的密封机构（10）内壁为黑色。