[发明专利]自动化数组芯片检测装置

权利要求书

1.一种自动化数组芯片检测装置，其特征在于包括有：

一承载机构，其端面至少设有一待测物前处理区、一纯化萃取区、一反转录及标定反应区及一数组芯片反应及显像区，用以作为待测物检测时待测物及数组芯片的盛放及反应操作平台；

一致动机构，与承载机构连接，用以于检测过程中对承载机构进行摇晃或震动，以提供承载机构内待测物与试剂及数组芯片反应所需的混合效果；

一温控机构，与承载机构连接，用以于检测过程中对承载机构进行温度控制；

一试剂存放机构，包含有多数试剂置放区及一磁珠置放区，以提供待测物于反应时所需的试剂；

一抽取机构，设于承载机构与试剂存放机构之间，以取用所需试剂于承载机构上并于承载机构中各区进行相关待测物的操作、传送及反应后废液的排放；

一磁场控制机构，与承载机构连接，以配合磁珠置放区的磁珠对待测物进行纯化；

一影像撷取机构，与数组芯片反应及显像区对应，用于撷取待测物与数组芯片进行反应及显像后的影像；以及

一操作机构，与承载机构、致动机构、温控机构、试剂存放机构、抽取机构、磁场控制机构及影像撷取机构连接，作为各机构运作时的控制、反应影像分析及数据显示。

2.根据权利要求１所述的自动化数组芯片检测装置，其特征在于，该数组芯片反应及显像区中设有数组式芯片，而各芯片上具有多数生物探针。

3.根据权利要求１所述的自动化数组芯片检测装置，其特征在于，该致动机构为伺服马达。

4.根据权利要求１所述的自动化数组芯片检测装置，其特征在于，该抽取机构为真空吸引器。

5.根据权利要求１所述的自动化数组芯片检测装置，其特征在于，该影像撷取机构为感光组件。

6.根据权利要求１所述的自动化数组芯片检测装置，其特征在于，该操作机构包含有一处理单元、一与处理单元连接的输入单元、及一与处理单元连接的输出单元。

7.根据权利要求6所述的自动化数组芯片检测装置，其特征在于，该处理单元为单芯片或为可程序逻辑数组。

8.根据权利要求6所述的自动化数组芯片检测装置，其特征在于，该输入单元为多数按键。

9.根据权利要求6所述的自动化数组芯片检测装置，其特征在于，该输出单元为显示屏。