[发明专利]放射图像检测设备及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201210033042.6 申请日: 2012-02-14
公开(公告)号: CN102670221A 公开(公告)日: 2012-09-19
发明(设计)人: 中津川晴康;金子泰久;岩切直人 申请(专利权)人: 富士胶片株式会社
主分类号: A61B6/00 分类号: A61B6/00;H01L27/146
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 夏东栋;陆锦华
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 放射 图像 检测 设备 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种放射图像检测设备,其包括:

两个闪烁器,其将辐射的放射线转换为光;以及

布置在两个闪烁器之间的光电检测器,其将由两个闪烁器转换的光检测为电信号;其中:

两个闪烁器中的至少在放射线入射侧上布置的闪烁器中在所述光电检测器附近的活化剂浓度相对高于该闪烁器中在与光电检测器侧相对的侧上的活化剂浓度。

2.一种放射图像检测设备,其包括:

两个闪烁器,其将辐射的放射线转换为光;以及

布置在两个闪烁器之间的光电检测器,其将由两个闪烁器转换的光检测为电信号;其中:

两个闪烁器中的至少一个闪烁器中在所述光电检测器附近的活化剂浓度在放射线传播方向上在高浓度和低浓度之间重复地改变。

3.根据权利要求1或2所述的放射图像检测设备,其中:

将所述光电检测器形成在基板上,然后从所述基板剥离。

4.根据权利要求3所述的放射图像检测设备,其中:

在两个闪烁器的相对表面之间的距离小于40微米。

5.根据权利要求1或2所述的放射图像检测设备,其中:

通过堆叠光电层和薄膜开关元件或平面地布置所述光电层和所述薄膜开关元件来构造所述光电检测器,所述光电层当接收光时显示导电性,所述薄膜开关元件用于从所述光电层提取电荷。

6.根据权利要求5所述的放射图像检测设备,其中:

所述光电层和薄膜开关元件的至少一种由有机材料形成。

7.根据权利要求1或2所述的放射图像检测设备,其中:

第一和第二闪烁器各自包括由其中相应的荧光材料的晶体已经生长为柱状形状的柱状晶体组形成的柱状部。

8.根据权利要求7所述的放射图像检测设备,其中:

所述第一和第二闪烁器的至少一个包括在所述柱状部的与光电检测器侧相对的侧上形成的非柱状部。

9.根据权利要求1或2所述的放射图像检测设备,其中:

所述第一和第二闪烁器之一的荧光材料的基质材料是CsI,并且其活化剂是Tl。

10.根据权利要求1或2所述的放射图像检测设备,其中:

通过对于所述放射线的灵敏度相互不同的荧光材料来构造所述第一和第二闪烁器。

11.根据权利要求10所述的放射图像检测设备,其中:

所述第一和第二闪烁器的荧光材料在发光颜色上相互不同。

12.根据权利要求1或2所述的放射图像检测设备,其中:

所述第一和第二闪烁器之一的荧光材料的基质材料是BaFX,并且其活化剂是Eu。

13.根据权利要求12所述的放射图像检测设备,其中:

所述第一和第二闪烁器的另一个的荧光材料的基质材料是Gd2O2S,并且其活化剂是Tb。

14.根据权利要求12所述的放射图像检测设备,其中:

所述光电检测器包括与第一和第二闪烁器对应的第一和第二光电检测器。

15.一种用于制造根据权利要求1至9中的任一项所述的放射图像检测设备的方法,所述方法包括:

在基板上形成所述光电检测器;以及

从所述光电检测器剥离所述基板。

16.根据权利要求15所述的用于制造放射图像检测设备的方法,所述方法还包括:

在所述基板上形成所述光电检测器并且将所述第一和第二闪烁器之一与所述光电检测器粘贴在一起之后,从所述光电检测器剥离所述基板。

17.根据权利要求15所述的用于制造放射图像检测设备的方法,所述方法还包括:

分别在分离的支持件上形成所述第一和第二闪烁器;

在将所述第一和第二闪烁器之一与所述光电检测器粘贴在一起之后,从所述光电检测器剥离所述基板,并且将所述光电检测器与所述第一和第二闪烁器的另一个粘贴在一起。

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