[发明专利]一种石墨烯纳米带场效应晶体管及其制备方法在审
申请号: | 201210032909.6 | 申请日: | 2012-02-15 |
公开(公告)号: | CN103258850A | 公开(公告)日: | 2013-08-21 |
发明(设计)人: | 马中发;庄弈琪;张鹏;吴勇;张策;包军林 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L29/16;H01L21/04;B82Y10/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 710071 陕西省*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 石墨 纳米 场效应 晶体管 及其 制备 方法 | ||
1.一种石墨烯纳米带场效应晶体管,其特征在于,包括衬底、沟道层、HfO2材质的底栅介质层、HfO2材质的顶栅介质层、源电极、漏电极和顶栅电极,所述沟道层为采用石墨烯纳米带制成的沟道层,所述顶栅介质层和底栅介质层分别位于沟道层的上方和下方,衬底位于底栅介质层的下方,源电极和漏电极分别位于沟道层的两端,顶栅电极位于顶栅介质层上。
2.根据权利要求1所述的石墨烯纳米带场效应晶体管,其特征在于,所述沟道层的宽度小于10nm。
3.根据权利要求1所述的石墨烯纳米带场效应晶体管,其特征在于,构成沟道层的材料为单层或双层石墨烯纳米带。
4.根据权利要求1所述的石墨烯纳米带场效应晶体管,其特征在于,所述底栅介质层和顶栅介质层的厚度为30nm。
5.一种石墨烯纳米带场效应晶体管的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:
(1)在衬底上采用原子层淀积方法制作一层HfO2层作为底栅介质层;
(2)制备石墨烯纳米带:
A、将350μm级别的石墨烯采用化学插层法产生可扩展的石墨;
B、快速的将可扩展的石墨加热到800℃-1200℃,把石墨烯剥离成一堆层数很少的石墨烯片;
C、利用PmPV液相超声和功能化所述石墨烯片可以产生在DCE中稳定悬浮的石墨烯纳米带;
(3)将带有底栅介质层的衬底浸入到有石墨烯纳米带的PmPV/DCE溶液中15-25分钟,然后用异丙醇冲洗,再用氩气吹干;
(4)然后再将其在空气中加热,然后再真空中退火,进一步清洁其表面;
(5)检测衬底上的石墨烯纳米带,并记录其位置,得到石墨烯纳米带材质的沟道层;
(6)再用电子束光刻技术在源、漏区制作第一组Au或Au/Ti接触,得到源、漏电极;
(7)在沟道层上采用原子层淀积方法制作一层HfO2层做为顶栅介质;
(8)在顶栅介质层上采用电子束光刻,淀积形成顶栅电极。
6.根据权利要求5所述的石墨烯纳米带场效应晶体管的制备方法,其特征在于,所述化学插层法所用的插层剂为硫酸和硝酸。
7.根据权利要求5所述的石墨烯纳米带场效应晶体管的制备方法,其特征在于,在进行步骤(3)之前,先在步骤(1)中所得到的衬底的底栅介质层上做上金属标记。
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