[发明专利]高能量X射线异物检测控制系统及方法无效

专利信息
申请号: 201210028833.X 申请日: 2012-02-09
公开(公告)号: CN102566487A 公开(公告)日: 2012-07-11
发明(设计)人: 孙轶;陆志文;吴家荣 申请(专利权)人: 上海高晶检测科技股份有限公司
主分类号: G05B19/05 分类号: G05B19/05
代理公司: 上海光华专利事务所 31219 代理人: 李仪萍
地址: 200433 上海市杨浦区翔*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 高能量 射线 异物 检测 控制系统 方法
【权利要求书】:

1.一种高能量X射线异物检测控制系统,其特征在于:所述高能量X射线异物检测控制系统包括采用多线程操作模式的高速控制器、FPGA、用以实现网络通信的网络芯片,第一外部设备,第二外部设备;所述高速控制器分别与FPGA、网络芯片和第一外部设备相连;所述FPGA与第二外部设备相连。

2.根据权利要求1所述的高能量X射线异物检测控制系统,其特征在于:所述高速控制器为内核频率最高达620MHz的ARM9控制器。

3.根据权利要求1所述的高能量X射线异物检测控制系统,其特征在于:所述网络芯片为100M以太网控制芯片。

4.根据权利要求1所述的高能量X射线异物检测控制系统,其特征在于:所述第一外部设备包括需要ARM9控制器直接控制的SDRAM、或/和FLASH。

5.根据权利要求1所述的高能量X射线异物检测控制系统,其特征在于:所述第二外部设备包括需要FPGA直接控制的高速A/D转换器、或/和放大器、或/和继电器、或/和时钟电路、或/和报警电路、或/和串口通讯芯片、或/和I/O接口、或/和高能量X射线异物检测设备。

6.一种权利要求1至5任意一项所述的高能量X射线异物检测控制系统的检测控制方法,其特征在于,所述检测控制方法包括:ARM9控制器根据高能量X射线异物检测系统所要完成的任务给出不同的控制指令,控制FPGA、网络芯片和第一外部设备;同时ARM9控制器根据从FPGA、网络芯片和第一外部设备得到的信息决定检测控制系统的控制方向和高能量X射线异物检测系统的具体执行指令。

7.根据权利要求6所述的高能量X射线异物检测控制系统的检测控制方法,其特征在于:所述FPGA根据ARM9控制器的指令向高能量X射线异物检测设备发出屏幕显示,同时FPGA还将高能量X射线异物检测设备输入的信息传给ARM9控制器;ARM9控制器对高能量X射线异物检测设备输入的信息进行识别判断,获得判断结果,并根据判断结果启动相应控制指令。

8.根据权利要求7所述的高能量X射线异物检测控制系统的检测控制方法,其特征在于:所述相应控制指令包括对FPGA、网络芯片、第一外部设备、第二外部设备以及其他扩展连接设备发出的动作执行指令。

9.根据权利要求7所述的高能量X射线异物检测控制系统的检测控制方法,其特征在于:所述FPGA根据ARM9控制器的指令控制第二外部设备,第二外部设备完成相应的任务后将完成任务信息传递给FPGA,FPGA将所述完成任务信息经过预处理后传递给ARM9控制器。

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