[发明专利]透明薄膜微孔缺陷微电流检测系统

权利要求书

1.一种透明薄膜微孔缺陷微电流检测系统，其特征在于：包括取样组件和微电流电路；所述取样组件包括硬质导电体I和硬质导电体II，被检测薄膜位于所述硬质导电体I与硬质导电体II之间被紧密挤压，所述硬质导电体I或/和硬质导电体II与被检测薄膜接触的表面设有柔性导电层；

所述微电流电路包括电源和电流检测单元，所述硬质导电体I、硬质导电体II和电流检测单元串联于电源组成串联电路。

2.根据权利要求1所述的透明薄膜微孔缺陷微电流检测系统，其特征在于：还包括用于输送被检测薄膜的工件输送装置，所述硬质导电体I和硬质导电体II均为滚筒结构，所述柔性导电层位于硬质导电体I或/和硬质导电体II外圆表面。

3.根据权利要求2所述的透明薄膜微孔缺陷微电流检测系统，其特征在于：所述工件输送装置为滚筒输送装置，包括卷膜滚筒和输送滚筒，卷膜滚筒和输送滚筒均设有用于驱动其转动的输送驱动电机，所述硬质导电体I或/和硬质导电体II设有用于驱动其转动的同步驱动电机，所述硬质导电体I、硬质导电体II、卷膜滚筒和输送滚筒的线速度相同。

4.根据权利要求3所述的透明薄膜微孔缺陷微电流检测系统，其特征在于：还包括控制系统，所述控制系统包括：

速度采集单元，用于采集硬质导电体I、硬质导电体II、卷膜滚筒和输送滚筒的线速度；

控制单元，用于采集电流检测单元的电流信号和速度采集单元的速度信号，对滚筒输送电机和同步驱动电机发出命令信号；

自动标记单元，与被检测薄膜对应设置用于接收控制单元的控制信号并对被检测薄膜的缺陷点进行标记。

5.根据权利要求4所述的透明薄膜微孔缺陷微电流检测系统，其特征在于：所述柔性导电层位于硬质导电体I外圆表面。

6.根据权利要求5所述的透明薄膜微孔缺陷微电流检测系统，其特征在于：所述柔性导电层为导电软胶。

7.根据权利要求6所述的透明薄膜微孔缺陷微电流检测系统，其特征在于：硬质导电体I设置同步驱动电机，所述硬质导电体II为随动。