[发明专利]用于自动紧固件检验的无损测试方法

权利要求书

1.一种用于检验紧固件附近的缺陷的方法，所述方法包括：

采用涡流探头来扫描包含一个或多个紧固件的对象，并且形成表示作为位置的函数的所测量信号的图像，称作所获取图像，

从所述所获取图像来获取或选择无缺陷紧固件的第二图像，称作参考图像，

使用所述参考图像来查找所述所获取图像中的所述紧固件的实例，以及

从所述所获取图像去除与所述无缺陷紧固件的材料相关的信息，以便提供可检验以寻找所述对象中位于所述紧固件处、周围、下面或附近的瑕疵的结果图像。

2.如权利要求1所述的方法，其中，通过比较所述所获取图像和参考图像以查找相似区域，经由应用阈值标准以选择具有较高相似度的区域，然后经由使用寻找局部最大数的搜索算法以定位各区域的对齐中心，来查找所述紧固件的位置。

3.如权利要求2所述的方法，其中，通过使用搜索窗口来定位各区域的所述对齐中心，所述搜索窗口开始于其相似度索引超过所述阈值标准的像素，然后进行移动以使得在窗口视野中具有最高相似度索引的所述像素始终位于所述搜索窗口的中心，并且其位置表示与所述紧固件关联的值的局部簇中的最高相似度索引。

4.如以上权利要求中的任一项所述的方法，其中，通过执行从所述紧固件位置的每个的所述所获取图像逐个像素地减去所述参考图像，然后又对各像素相加表示平均背景值的值，去除所述无缺陷紧固件对所述所获取图像的影响。

5.如权利要求1至3中的任一项所述的方法，其中，通过经由从所述所获取图像中的对应像素的平方减去所述参考图像中的像素值的平方以执行从所述紧固件位置的每个的所述所获取图像逐个像素地减去所述参考图像，然后又对各像素相加表示平均背景值的值，去除所述紧固件对所述所获取图像的影响。

6.如以上权利要求中的任一项所述的方法，其中，所述所获取图像与所述参考图像的区域之间的所述相似度通过归一化互相关来确定。

7.如权利要求1至5中的任一项所述的方法，其中，通过比较来自两个区域的特征特性、例如来自两个图像的小波系数、傅立叶系数和主成分，来确定所述所获取图像与所述参考图像的区域之间的所述相似度。

8.如权利要求1至5中的任一项所述的方法，其中，将分类系统或经专门训练的神经网络用于比较所提取特征特性来确定所述所获取图像与所述参考图像的区域之间的所述相似度。

9.一种用于检验紧固件附近的缺陷的系统，所述系统包括：

涡流探头，用于扫描包含一个或多个紧固件的对象，以及

控制器，可连接到或者包括屏幕，所述控制器设置成：

形成表示作为位置的函数的所测量信号的图像，称作所获取图像；

获取无缺陷紧固件的图像，称作参考图像；

使用所述参考图像来查找所述所获取图像中的所述紧固件的实例，以及

去除所述所获取图像中与所述无缺陷紧固件的材料相关的信息，以便提供结果图像。

10.如权利要求9所述的系统，其中，所述控制器设置成通过比较所述所获取图像和参考图像以查找相似区域，经由应用阈值标准以选择较高相似度的区域，然后经由使用寻找局部最大数的搜索算法以定位各区域的对齐中心，来确定所述紧固件的位置。

11.如权利要求9或10所述的系统，其中，所述控制器通过执行从找出的紧固件位置的每个的所述所获取图像中逐个像素地减去所述参考图像，然后又对各像素相加表示平均背景值的值，去除所述所获取图像中与所述紧固件的材料相关的信息。

12.如权利要求9至11中的任一项所述的系统，其中，所述控制器设置成通过经由从所述所获取图像中的对应像素的平方减去所述参考图像中的像素值的平方以执行从所述紧固件位置的每个的所述所获取图像逐个像素地减去所述参考图像，然后又对各像素相加表示平均背景值的值，去除所述所获取图像中与所述紧固件的材料相关的信息。

13.一种基本上如以上参照附图所述的用于检验紧固件附近的缺陷的方法。

14.一种基本上如以上参照附图所述的用于检验紧固件附近的缺陷的系统。