[发明专利]粉体层体积测定装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种粉体层体积测定装置。

背景技术

粉体的物性值，以休止角、崩溃角、刮铲角、松密度/振实密度、压缩度、凝聚度、分散度、差角等各种参数来测定。关于对这些物性值进行测定的装置，可以在专利文献1中了解到其示例。

专利文献1公开了一种对粉体的堆积密度进行测定的装置。在专利文献1记载的装置中，将放入有粉体试样的测定用杯(量筒)设置在敲击台上，该敲击台被设置在该测定装置所具备的用于实施测定的局部空间、即测定室内的底部。在所述测定室的顶棚上，于测定用杯的正上方的位置处设置有天窗，且在其上设置有传感器盒匣。被配置在传感器盒匣中的非接触型传感器对测定用杯中的粉体面高低进行测定。用传感器来对该测定用杯内为空状态时的情况进行测定，从而预先求取基准值(高度0)。然后将试样粉体放入测定用杯内，用传感器来测量粉体面高低H。在此，利用测定用杯的底面面积A和粉体面高低的测定值(距离测定用杯的底部的高度)H的乘积，来求取试样粉体的体积。

在先技术文献

专利文献

专利文献1：日本专利第4368738号公报

发明内容

发明所要解决的课题

在使用量筒作为测定用杯时，作为与投入到量筒内的试样粉体的压缩性相关的评价方法，具有对振实密度(也称作敲击密度)和体积减小度进行测定的方法。作为振实密度的测定方法，具有如下方法，即，将预定量的试样粉体放入量筒内之后，以预定的冲程量以及预定的振动频率(每单位时间内的敲击次数)实施预定次数或预定时间的敲击，从而求取振实密度的方法。当采用例如美国药典(USP)敲击法和美国材料与试验协会(ASTM)敲击法时，用投入到量筒内的试样粉体的质量除以敲击后的试样粉体的体积来求取振实密度。另外，在川北方程粉体压缩评价法中，也利用相同方法进行敲击，当敲击前的试样粉体的体积为V₀，敲击后的试样粉体的体积为V时，利用(V₀-V)/V₀来求取体积减小度。

如此，无论在哪一种测定方法中，均通过对敲击前和/或敲击后的量筒内的粉体层的体积进行测定，从而求取振实密度和体积减小度。此时的体积测定优选为，以不压迫粉体层的非接触方式来实施。当然，虽然使用专利文献1记载的装置那样的非接触型传感器，但根据试样粉体的种类和粒子直径、或粉体面的凹凸情况，有时会存在采用超声波传感器这种非接触型传感器难以进行高精度体积测定的情况。

本发明是鉴于上述点而完成的，其目的在于，提供一种能够对透明或半透明的圆筒形容器内的粉体层的体积进行高精度测定的粉体层体积测定装置。

用于解决问题的方法

本发明的粉体层体积测定装置具备：摄像头；背光部件，其被配置在与所述摄像头相向的位置处；圆筒形容器，其为透明或半透明的，且被配置在所述摄像头和所述背光部件之间；升降装置，其使所述摄像头在垂直方向上移动；控制装置，其实施对所述摄像头和所述升降装置的动作控制；位移量测定装置，其对所述摄像头从所述控制装置所设定的初始设定位置起的垂直方向位移量进行检测，并输出至所述控制装置；图像分析装置，其对所述摄像头拍摄的、所述容器内的粉体层的图像进行分析，并将分析结果输出至所述控制装置；运算单元，其根据所述摄像头从所述初始设定位置起的垂直方向位移量来计算粉体层的体积。

在本发明的粉体层体积测定装置中，所述圆筒形容器被安装在设定了冲程量和振动数的敲击装置的敲击台上。

在本发明的粉体层体积测定装置中，所述圆筒形容器由量筒构成。

发明效果

根据本发明，由于圆筒形容器内的粉体层的图像由图像分析装置进行分析，并对摄像头从初始设定位置起的垂直方向位移量进行检测，从而根据该垂直方向位移量来计算粉体层的体积，因此能够进行高精度的体积测定。

附图说明

图1为粉体物性测定装置的概要主视图。

图2为粉体物性测定装置的概要侧视图。

图3为粉体物性测定装置的概要剖视图。

图4为背光部件的概要剖视图，且为从侧面观察时的图。

图5为对图像处理的概念进行说明的说明图。

图6为粉体层体积测定装置的结构框图。

图7为用于对振实密度或体积减小度测定进行说明的概要剖视图。

符号说明

1粉体物性测定装置

2本体

3盖

10测定室

20摄像装置

21摄像头

23升降装置