[发明专利]利用加速试验来评价电容器贮存寿命的方法

权利要求书

1.一种利用加速试验来评价电容器贮存寿命的方法，包括以下步骤：

1)在被评价的电容器组中抽取一定数量的被测电容器，给每只被测电容器编号后测量并记录被测电容器的平均初始电容值C₀，然后再随机分为10组；

2)从所述10组电容器中取出第一组电容器进行室温下的贮存试验，间隔一定时间取出L个电容器进行测试并记录贮存后的平均电容值C₁，直至全部电容器都取出并测量后为止，计算出贮存后的电容值相对于初始电容值的电容值变化量ΔC₁，得到室温下电容值随时间变化的贮存寿命前期数据曲线；

3)从所述10组电容器中取出第二组电容器，在高于室温的第二温度下进行贮存试验，间隔一定时间取出m个电容器，将其降至室温后测试并记录贮存后的平均电容值C₂，直至全部电容器都取出并测量后为止，计算出贮存后的电容值相对于初始电容值的电容值变化量ΔC₂，从而获得在第二温度下电容值随时间变化的曲线；如果电容值随时间变化较小，则说明温度应力不明显，在该温度下进行贮存试验，会导致试验周期太长，需要重新选取新的温度应力水平进行试验；提高贮存温度，重新进行上述贮存试验，直至找到合适的温度点记为T1；继续提高贮存温度，重复上述贮存试验；

4)分别在多个不同的温度下进行贮存试验，与步骤2)一样间隔一定时间测试并记录贮存后的电容值变化，得到高温下的贮存电容随时间变化的曲线；

5)利用曲线拟合，验证不同温度下变化趋势是否相同，如果变化趋势一致，则进行以下步骤6)，如果变化趋势出现不一致，应停止试验进行分析，查明原因后重新进行试验；

6)进行数据分析，推算出常温下的器件贮存寿命。

2.根据权利要求1所述的评价电容器贮存寿命的方法，其中，步骤1)中的所述被评价的电容器组为同一批次，并且产品结构、工艺参数基本一样，失效模式、激活能基本相同。

3.根据权利要求1所述的评价电容器贮存寿命的方法，其中，步骤1)中的被评价的电容器是经过筛选剔除早期失效后全部合格的产品。

4.根据权利要求1所述的评价电容器贮存寿命的方法，其中，在试验时，选取电容值相对集中的一批样品，以便保证在样品数较小的情况下，获得较好的试验结果。

5.根据权利要求1所述的评价电容器贮存寿命的方法，其中，被评价的电容器的数目为200至1000只，以便确保试验的可信度并减少试验的工作量。

6.根据权利要求1所述的评价电容器贮存寿命的方法，其中，测试后的电容器不再进行贮存试验。

7.根据权利要求1所述的评价电容器贮存寿命的方法，其中，所述步骤3)中的摸底试验用于确定加速温度的大小。

8.根据权利要求1所述的评价电容器贮存寿命的方法，其中，所述步骤3)中的加速温度应力条件既不能过低，也不能过高；如果试验所加温度应力条件过低，会导致试验周期太长，就需要重新选取新的温度应力水平进行试验摸底，然而施加温度应力过高，试验条件难以保证。

9.根据权利要求1所述的评价电容器贮存寿命的试验方法，其中所述步骤6)进行数据分析，首先是用图形软件将室温和高温下的贮存试验数据进行拟合，得出两条不同温度下电容随时间变化的曲线，然后在这两条曲线上截取电容值相同的点，对应的时间分别为t和T，通过最小二乘法拟合，得出t与T之间的比值，即为加速因子A，设置贮存失效的判据，在高温贮存试验曲线中找出失效时对应的时间T_F，结合前述计算得出的加速因子A，即可得出常温贮存的寿命为A*T_F。