[发明专利]一种基站的射频测试系统、方法及多工器

说明书

技术领域

本发明涉及无线通信设备测试技术，特别涉及一种频分双工长期演进(FDD LTE)基站的射频测试系统、方法及多工器。

背景技术

LTE基站中的演进射频拉远单元(eRRU)是无线通信系统中不可或缺的部分，其性能优劣影响着整个系统，需要通过测试验证其射频性能是否达到了设计的目标。

eRRU实际部署场景如图1所示，图1中，ANT为天线，UE为用户设备，EPC为演进的分组核心网，OMC为操作维护中心。外场实际部署的时候eRRU直接通过馈线连接天线，由于天线和射频馈线的无源互调通常都在-150dBc以下，所以天线和射频馈线对eRRU的性能影响很小。

实验室测试环境如图2所示，在实验室测试中，由于eRRU的每个天馈口(即射频端口)的输出功率都大于20W，经常要用到许多的测试附件，如：衰减器、环形器、隔离器和陷波器等，但环形器和隔离器这类铁氧体器件无源互调都很差，在大功率下互调产物很大，对eRRU的测试影响非常大，测试环境已经不能真实的反映eRRU实际性能。

另外，在上述测试环境中，上行射频指标(接收机射频指标)和下行射频指标(发射机射频指标)是分时测试，效率比较低。

而且，目前FDD LTE的射频测试环境都是采用分立式器件，连接复杂，搭建测试环境成本高，且连接处很容易产生互调以及电磁杂散，对测试结果存在很大影响。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种基站的射频测试系统、方法及多工器，以提高测试效率和测试结果的准确性，并降低测试成本。

为解决上述技术问题，本发明提供技术方案如下：

一种用于基站射频测试的多工器，包括：

第一端口，与所述基站的待测试射频端口连接；

第一合路器，与所述第一端口连接；

至少一个第二端口，与频谱分析仪连接；

至少一个第三端口，与信号发生仪连接；

连接在所述第一合路器和所述第二端口之间的带通滤波器，其通带为所述基站的下行射频信号频段；

连接在所述第一合路器和所述第三端口之间的带阻滤波器，其阻带为所述基站的下行射频信号频段。

上述的多工器，其中：

所述第二端口的数目为1；

所述第三端口的数目为2，分别用于接收所述信号发生仪发送的上行射频信号和对所述上行射频信号进行干扰的干扰信号。

上述的多工器，其中：

所述带阻滤波器的数目为1；

所述多工器还包括，连接在所述带阻滤波器和所述第三端口之间的第二合路器。

上述的多工器，其中：

所述带阻滤波器的阻带包括所述基站的两个不同的下行射频信号频段。

一种基站的射频测试系统，包括，频谱分析仪、信号发生仪和上述的多工器。

一种基于上述的射频测试系统实现的射频测试方法，包括：

多工器接收基站发送的下行射频信号和信号发生仪发送的上行射频信号；

所述多工器对所述下行射频信号进行带通滤波后，发送到频谱分析仪，供所述频谱分析仪进行发射机射频指标的测试；

所述多工器对所述上行射频信号进行带阻滤波后，发送到所述基站，供所述基站进行接收机射频指标的测试。

上述的射频测试方法，其中：

所述发射机射频指标包括发射功率、误差矢量幅度、下行杂散和占用信道带宽中的至少一个；

所述接收机射频指标包括灵敏度、阻塞、上行杂散中的至少一个。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：

本发明给出了一种多工器的结构，采用该多工器进行LTE基站的射频测试时，能够同时对RRU的上行射频指标和下行射频指标进行测试，提高了测试效率，降低了测试成本；

本发明克服了现有技术中测试环境无源互调过大对测试结果的影响问题，使测试结果更准确，能在实验室测试中充分反应RRU的实际性能；

本发明的多工器支持异频RRU的同时测试，并且，所述多工器还可以实现测试环境简单化，提高测试过程的稳定性和测试结果的可靠性。

附图说明

图1为RRU外场部署场景示意图；

图2为RRU实验室测试环境示意图；

图3为根据本发明实施例的多工器的结构示意图；

图4为根据本发明实施例的三工器的结构示意图；

图5为根据本发明实施例的三工器的另一种结构示意图；

图6为根据本发明实施例的四工器的结构示意图。

具体实施方式