[发明专利]二维摆镜扫描的太赫兹被动式成像系统无效
申请号: | 201210019045.4 | 申请日: | 2012-01-20 |
公开(公告)号: | CN102590095A | 公开(公告)日: | 2012-07-18 |
发明(设计)人: | 黄志明;童劲超;侯云;陆金星;黄敬国;张雷博;周炜;郁启华;沈学民;褚君浩 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海技术物理研究所 |
主分类号: | G01N21/17 | 分类号: | G01N21/17;G02B26/10 |
代理公司: | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人: | 郭英 |
地址: | 200083 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 二维 扫描 赫兹 被动式 成像 系统 | ||
1.一种二维摆镜扫描的太赫兹被动式成像系统,它包括聚光透镜(1)、离轴抛物面反射镜(2)、中心有通光小孔的二维扫描摆镜(3)、平面反射镜(4)、太赫兹成像探测器(5)、前置信号放大器(6)和成像控制单元(7),其特征在于:系统在工作时,由成像样品出射的太赫兹光经过聚光透镜(1)入射到离轴抛物面反射镜(2)汇集,经二维扫描摆镜(3)和平面反射镜(4)两次反射后通过通光小孔(3-1)被太赫兹成像探测器(5)接收,经过前置信号放大器(6)放大信号,由控制系统进行数据处理并进行伪彩色成像;在系统工作过程中,成像控制单元(7)控制扫描电机驱动而实现对二维扫描摆镜(3)进行扫描模式控制,二维扫描摆镜(3)进行来回摆动逐行逐点对成像样品扫描。
2.根据权利要求1所述的一种二维摆镜扫描的太赫兹被动式成像系统,其特征在于:所述的聚光透镜(1)为聚乙烯焦距为20cm镜片。
3.根据权利要求1所述的一种二维摆镜扫描的太赫兹被动式成像系统,其特征在于:所述的太赫兹成像探测器(5)为响应峰值在0.1THz的GaAs肖特基二极管太赫兹成像探测器。
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