[发明专利]被动辐射度量成像设备和方法

权利要求书

1.一种被动辐射度量成像设备(10)，用于扫描场景(1)并重构所述场景(1)的图像(6)，所述设备包括：

辐射仪(20)，所述辐射仪(20)被配置为检测从所述场景(1)的多个点(2)在预定频谱范围内放射的辐射(3)来获得包括每个点的至少一个辐射样本的辐射样本(4)的数据集合(7)，以及

处理装置(30)，所述处理装置(30)被配置为随后确定要重构的图像(6)的像素的像素值(5)，所述处理装置(30)被适配为从来自所述数据集合(7)的辐射样本的数据子集(8)确定所述像素中的一个像素的像素值，所述数据子集(8)包括在对应于或最接近于其像素值要被确定的像素的点(9)处检测到的辐射样本，和/或在相邻点(9’)处检测到的辐射样本，所述处理装置包括：

-成本计算单元(40)，所述成本计算单元(40)被配置为根据预定的成本函数来计算所述数据子集(8)的辐射样本的成本，所述成本指示在各个辐射样本中的噪声级别，以及

-优化单元(50)，所述优化单元(50)被配置为通过确定利用能量函数针对各个数据子集(8)的不同辐射样本或不同辐射样本群组所确定的能量值的极值来确定作为标签值集合中的标签值的像素值，标签指示各个数据子集(8)中的辐射样本或辐射样本群组，所述能量函数通过将第一被加数与第二被加数相加来获得和值，所述第一被加数包括针对其确定所述能量值的辐射样本或辐射样本群组的成本，并且所述第二被加数考虑了至少一个相邻数据子集的至少一个辐射样本或辐射样本群组的成本。

2.如权利要求1所述的被动辐射度量成像设备，

其中，所述优化单元(50a，50e)被配置为使用包括考虑了所有直接相邻的数据子集的至少一个辐射样本或辐射样本群组的成本的第二被加数的能量函数。

3.如权利要求1所述的被动辐射度量成像设备，

其中，所述优化单元(50b，50c)被配置为使用包括考虑了相同行或相同列的所有相邻数据子集的至少一个辐射样本或辐射样本群组的成本的第二被加数的能量函数。

4.如权利要求1所述的被动辐射度量成像设备，

其中，所述优化单元(50d)被配置为使用包括考虑了来自不同行和/或不同列的数据子集，具体讲来自所有数据子集，的至少一个辐射样本或辐射样本群组的成本的第二被加数的能量函数。

5.如权利要求3或4所述的被动辐射度量成像设备，其中，所述优化单元(50b，50c)被配置为使用如下能量函数，该能量函数采用来自不同行和/或不同列的数据子集或相邻数据子集的成本作为所述标签值之间的差的函数。

6.如权利要求3或4所述的被动辐射度量成像设备，

其中，所述优化单元(50)被配置为应用信任传播以用于通过确定与所述标签值相关联的所述能量值的极值来确定针对像素的所述标签值。

7.如权利要求3或4所述的被动辐射度量成像设备，

其中，所述优化单元(50)被配置为应用动态规划以用于通过确定与所述标签值相关联的所述能量值的极值来确定针对像素的标签值。

8.如之前任一项权利要求所述的被动辐射度量成像设备，

其中，所述优化单元(50)被配置为向数据子集的单个辐射样本或辐射样本群组指派标签，向所述标签指派成本值以及使用所述能量函数来确定所述标签的能量值，所述标签识别该样本或该样本群组，所述能量函数通过将包括针对其确定所述能量值的标签的成本的第一被加数与考虑了至少一个相邻数据子集的至少一个标签的成本的第二被加数相加来形成和值。

9.如之前任一项权利要求所述的被动辐射度量成像设备，其中，所述优化单元(50)被配置为指派每个像素的所述标签集合作为辐射样本在数据子集中的编号。

10.如之前任一项权利要求所述的被动辐射度量成像设备，其中，所述优化单元(50)被配置为具体地通过均匀分组来对所述辐射样本分组并且指派所述标签集合作为群组在数据子集中的编号。