[发明专利]一键测试自动增益控制环路时间常数的方法无效
申请号: | 201210017888.0 | 申请日: | 2012-01-19 |
公开(公告)号: | CN102710228A | 公开(公告)日: | 2012-10-03 |
发明(设计)人: | 饶俊 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第十研究所 |
主分类号: | H03G3/20 | 分类号: | H03G3/20;G01R31/28 |
代理公司: | 成飞(集团)公司专利中心 51121 | 代理人: | 郭纯武 |
地址: | 610036 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测试 自动增益控制 环路 时间常数 方法 | ||
1.一键测试自动增益控制环路时间常数的方法,具有如下技术特征:
(1)针对设计在可编程门阵列芯片(FPGA)中的被测AGC环路,在FPGA中编制接收开始测试命令,改变被测自动增益控制(AGC)环路增益,产生一个判断AGC环路是否处于稳定状态的测试比较器和对被测AGC环路系统钟进行计数的计数器,完成对被测AGC环路时间常数的测试程序,在被测AGC环路模型上构建测试模型;
(2)计算机通过CPCI、PCI、串口、网络与FPGA连接,向FPGA发出开始测试的控制命令,由上述测试比较器判断被测AGC环路输出的峰值功率Vout是否小于或大于设定的门限值Vref后,输出结束脉和计数值;然后将计数值的结果上报给计算机,计算机根据上报结果和被测AGC环路的系统钟计算出环路稳定时间,并显示结果。
2.如权利要求1所述的一键测试自动增益控制环路时间常数的方法,其特征在于,测试计数器的开始和结束由开始、结束脉冲决定,开始脉冲由FPGA收到测试命令后产生,结束脉冲由在FPGA中的测试比较器输出产生。
3.如权利要求1所述的一键测试自动增益控制环路时间常数的方法,其特征在于,测试比较器根据被测AGC环路的峰值检测电路的峰值输出与被测AGC环路的参考值比较,满足条件则输出结束脉冲。
4.如权利要求1所述的一键测试自动增益控制环路时间常数的方法,其特征在于,所述的测试程序包括:接收开始测试程序、实现被测AGC输入信号阶跃变化的程序、对被测AGC环路的系统钟计数的程序以及判断被测AGC环路处于稳定的程序。
5.如权利要求1所述的一键测试自动增益控制环路时间常数的方法,其特征在于,FPGA收到命令后进行测试,从开始测试到环路稳定对被测AGC环路的系统钟频率fs进行计数,计数值为N,根据系统钟频率fs和计数值N得到环路稳定时间及时间常数 ,式中TST为时间常数,fs为被测AGC环路的系统钟频率,N为结束测试时计数器的计数值。
6.如权利要求1所述的一键测试自动增益控制环路时间常数的方法,其特征在于,FPGA的被测AGC环路模型中的可变增益放大器增益由可编程门阵列芯片FPGA控制,实现输入信号的峰值检测、比较,产生数字环路增益Gain,数字环路增益通过数模转换器(D/A)变换,生成可变增益放大器所需的控制电压。
7.如权利要求1所述的一键测试自动增益控制环路时间常数的方法,其特征在于,开始测试时,测试模型在被测AGC环路的数字环路增益值上加上或减去一个可任意设置的常数值,输出到数模转换器D/A,D/A将数字增益转换为可变增益放大器的控制电压,测试AGC环路输入信号的阶跃响应。
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