[发明专利]半导体发光器件及其制造方法有效
申请号: | 201210015217.0 | 申请日: | 2006-07-25 |
公开(公告)号: | CN102569560A | 公开(公告)日: | 2012-07-11 |
发明(设计)人: | 崔镇植 | 申请(专利权)人: | LG伊诺特有限公司 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 蔡胜有;吴鹏章 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 发光 器件 及其 制造 方法 | ||
1.一种半导体发光器件,包括:
n电极,所述n电极具有顶表面和底表面;
形成在所述n电极的顶表面中的不均匀图案;
形成在所述n电极上的n型半导体层,所述n型半导体层具有顶表面和底表面;
形成在所述n型半导体层的底表面中的不均匀图案,所述n型半导体层的不均匀图案接触所述n电极的不均匀图案;
形成在所述n型半导体层上的有源层;
形成在所述有源层上的p型半导体层;以及
形成在所述p型半导体层上的p电极。
2.根据权利要求1所述的半导体发光器件,其中形成在所述n电极的顶表面中的不均匀图案延伸跨越所述n电极和所述n型半导体层之间的整个边界。
3.根据权利要求1所述的半导体发光器件,其中所述n型半导体层和所述p型半导体层由GaN形成。
4.根据权利要求1所述的半导体发光器件,其中所述n电极和p电极中的至少一个是透明的。
5.根据权利要求1所述的半导体发光器件,其中所述有源层是多量子阱结构。
6.根据权利要求1所述的半导体发光器件,还包括在所述p型半导体层和所述p电极之间的p接触半导体层。
7.根据权利要求1所述的半导体发光器件,还包括在接触所述p电极的所述p型半导体层中的不均匀图案。
8.根据权利要求7所述的半导体发光器件,其中所述p型半导体层中的不均匀图案以规则的间隔形成。
9.根据权利要求7所述的半导体发光器件,其中所述p型半导体层中的不均匀图案以不同的间隔形成。
10.根据权利要求1所述的半导体发光器件,其中所述n型半导体层中的不均匀图案以规则的间隔形成。
11.根据权利要求1所述的半导体发光器件,其中所述n型半导体层中的不均匀图案以不同的间隔形成。
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